1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。
有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、
断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。
FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層
が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、
420nm程であることがわかりました。
【事例概要】
■調査試料：クロメート
■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測
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基本情報【事例】クロメート処理膜の膜厚測定
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カタログ【事例】クロメート処理膜の膜厚測定
取扱企業【事例】クロメート処理膜の膜厚測定
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■表面・断面の拡大観察及び計測、異物分析、材質・組成分析など解析全般
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