ＩＣ外観検査装置用ハンドラー新光エンジニアリング

基本情報ＩＣ外観検査装置用ハンドラー

ＭＶＩ−１０型ＩＣ外観検査装置は拡張性が高く小型（Ｗ６６０ＸＤ１０３０ＸＨ１７００）で移動可能（必要なのは１００Ｖのみ）なＩＣチップ（ＣＳＰ，ＷＬＣＳＰ，ＢＧＡ，ＱＦＰ等）の２次元および３次元検査装置です。ＪＥＤＥＣ１枚トレイ供給タイプで自動搬送/検査/判別を行うことが出来ます。検査ユニットは標準で２次元検査、３次元検査のどちらかのユニットを搭載可能です。また、他の検査装置を連結しワークを受け渡し検査させることも可能な拡張性があります。

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型番・ブランド名	MVI-10
用途／実績例	ICの2次元検査、3次元検査

カタログＩＣ外観検査装置用ハンドラー

三次元・二次元外観検査用ハンドラー

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取扱企業ＩＣ外観検査装置用ハンドラー

新光エンジニアリング株式会社

業務内容・セル生産対応設備の設計製作・加工、組立ラインの自動化主要製品・タッチパネル製造装置・液晶パネル製造装置・樹脂塗布装置・真空貼合装置・アライメント装置・ＵＶ照射装置・パネル貼合せ装置・フィルム貼付け装置・ＮＣラミネーター・真空ラミネーター・電子部品製造装置・自動車部品製造装置・ロボットエンジニアリング・ＩＣ外観検査装置・太陽電池製造設備