ラドデバイス株式会社 OPTO DIODE社 XUV−UV検出用Siフォトダイオード
- 最終更新日:2011-12-19 15:54:27.0
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軟X線〜UV領域での内部量子効率がほぼ100%
OPTO DIODE(旧IRD)社は米NIST・LLNL他研究機関と共同で、軟X線〜UV領域において内部量子効率がほぼ100%のSiフォトダイオードを開発しました。
取扱い易く、小型のSiフォトダイオードは、高光エネルギー研究分野のみならず、エレクトロン・イオンの領域においても期待されています。
基本情報OPTO DIODE社 XUV−UV検出用Siフォトダイオード
★特長★
‐ 対応波長感度領域*:0.04nm〜1100nm (エネルギー領域:1.12eV〜30KeV)
* モデルによって対応領域が異なりますので、ご注意下さい。
‐ 100%内部量子効率(Q.E.), 耐放射線性, 高ダイナミックレンジ
‐ 較正可能:米NIST・独PTB・(産業技術総合研究所**)
** 波長によっては対応できません。
★シリーズ★
‐AXUVシリーズ:SiO2層6−8nm・100%Q.E.
フォトン検出領域(0.04nm〜1100nm)
低エネルギー エレクトロン・イオン
‐UVGシリーズ:SiO2層40−150nm・100%Q.E.
フォトン検出領域(130nm〜1100nm)
‐SXUVシリーズ:metal silicide層
高フラックスフォトン及びUV/EUVパルス光源・
高エネルギー密度>0.1μJ/cm2パルス検出用
価格情報 | - |
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納期 | お問い合わせください |
型番・ブランド名 | IRDブランド |
用途/実績例 | ‐X線プラズマ、X線〜UVレーザー、X線天文学、X線分光 ‐放射光X線ビームライン 同社のIRD Siフォトダイオードは、日本・海外の放射光施設において採用されています。 例:RACE- Ring Accelerator Experiment at awrence Livermore National Laboratory) ‐ スペースミッション EU: SOHO, Coronas-Photon USA: SNOE,SORCE, TIMED, EOS |
カタログOPTO DIODE社 XUV−UV検出用Siフォトダイオード
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