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単結晶シリコンブロック用ライフタイム測定装置
ライフタイム測定器 WT-2000PIは、e-PCD技術を使用し、パッシベーション処理なしの単結晶シリコンインゴット状態で少数キャリアライフタイムを測定します。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…
比抵抗測定器 RT-1000は、ベストセラー機 RT-1000の後継機種となり、渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定いたします。(測定範囲: 0.001〜100 Ωcm)...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます
PN判定器 PN-100は、半導体材料を非接触/非破壊にて P/Nタイプ判定いたします。 シリコン端材、スクラップを含むシリコンインゴット原料のPN判別用途に最適です。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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PN判定器 【PN-12α】
ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【広範囲な抵抗レンジで測定可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式:熱起電...
メーカー・取り扱い企業: ナプソン株式会社
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高速高精度、非接触、計測角度、0度~測定でき簡単に使えます。
シリコンインゴットを切断するワイヤカット機のローラー溝形状非接触測定機です。 断面投影法でローラー外周部の溝形状をラインカメラ移動で撮影して60秒で全溝データを測定します。 詳しくは、カタログをダウンロードしてご覧下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイティ・テック
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PN判定器 【PN-1S】
ナプソン株式会社は、半導体ウエハやFPD基板の各種測定システムを開発・製造・販売しております。 抵抗率/シート抵抗に関するあらゆるニーズにお応えし、仕様設計からアフターケアまで、最新の技術と豊富な経験を活かして、高精度・高性能なシステムをご提供いたします。 その他製品ございますので、詳細はお問い合わせ下さい。...【スピーディーな測定が可能な接触型PN判定器】 ◆判定方式:整流電力方...
メーカー・取り扱い企業: ナプソン株式会社
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