検査・点検システム『See-Note』【図面上で検査・点検！】

PR図面上から検査・点検が可能に！図面とチェック項目の組み合わせで、点検・…

「See-Note」は、スマホ・タブレットを利用して検査・点検を行うシステム です。現場で紙に手書きで行っている点検業務を簡単に電子化できます。 従来はチェック項目一覧から選択し点検・検査を行う必要がありましたが、 図面上から検査・点検が行えるようになりました。図面とチェック項目を の組み合わせにより、点検・検査箇所が格段に分かり易くなります。 【特長】 ■スマホ・タブレットを利用...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＳＡＹコンピュータ

プラズマ評価ツール『プラズマインジケータ　PLAZMARK』

PRプラズマ処理効果の「見える化」を実現！プラズマインジケータ(TM) P…

『プラズマインジケータ(TM)　PLAZMARK(R)』は、プラズマで変色する色材を用いたプラズマ処理効果の確認用インジケータです。 プラズマ密度に応じて段階的に変色しますので、プラズマの状態を「色で見える化」できます。 変色は不可逆反応のため、判定記録として残せ、工程管理にも利用できます。 また、変色は簡単に数値化でき、他の測定結果との相関を見ることもできます（ただし数値化には別途、色差計...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サクラクレパス PI事業部

受託サービス：デバイスの質量ガス分析

高精度の四重極型質量分析システムによる受託分析サービス。封止デバイス内…

測定例】 ■半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定 ■半導体ウェハー基板からのガス放出測定 ■接合ウェハー界面のガス分析 ■MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定 ■封止デバイスの極微小リークチェック ※「PDFダウンロード」より本サービスの紹介に加え、 　分析システムに関する解説を掲載した資料をご覧いただけます。 　お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子株式会社

受託サービス：質量ガス分析＜分析システムの解説付き資料進呈＞

高精度の四重極型質量分析システムによる受託分析サービス。極微小リークも…

に貢献します。 【測定例】 ■半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定 ■半導体ウェハ基板からのガス放出測定 ■MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定 ■封止デバイスの極微小リークチェック ※「PDFダウンロード」より本サービスの紹介に加え、 　分析システムに関する解説を掲載した資料をご覧いただけます。 　お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

メーカー・取り扱い企業： 東京電子株式会社