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15件 - メーカー・取り扱い企業
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PR「ベアーチップでハイパワーUV 照射用LEDを実装したい。」このような…
三洋電機様で長年、LED関連実装の試作から量産までのお手伝いを行ってきました。 現在も、大手電機メーカ様のベアーチップ実装の試作から量産までのお手伝いを行っております。 特にUV LEDは、下記のような点で設計、製造上でお困りの場合が多くあります。 ◆光、熱により劣化と材料選定 材料メーカーの技術者のご紹介、過去の関連材料情報 ◆光対策のための構造選定 熱引け構造、放熱構造など...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社佐用精機製作所
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PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…
WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ(WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品 WP...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティカルソリューションズ
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光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較!メリット、デメリットを挙げて解…
試料の観察には光学顕微鏡とSEM(走査電子顕微鏡)がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われてい...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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コントラスト比や色温度などを測定可能!光学特性の変化を定量的に評価
当社では液晶ディスプレイやOLEDなどの光学特性を分光放射計を用いて 測定できます。 試験前後に測定を行う事で、光学特性の変化を定量的に評価。 白および赤緑青の4パターンにて分光放射輝度を測定します。 輝度・色度・主波長など、...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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LCD部品、製品の品質状態を確認!液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…
【解析内容(抜粋)】 <光学観察> ■分類 ・パネルLCM/Cell ・Cell解体後の光学観察 ■評価項目 ・COG接合/FOG接合 ・SEG-LCD_PIN接合 ・引き出し配線/周辺回路 ・セルシール ・...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…
PC)のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固定部の配線に顕著な異常や差異は 確認できないが、EBSD解析では、屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所や、 小傾角粒界が集中している個所が存在していることが分かりました。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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MEMS部品の構造を非破壊・破壊的手法を組み合わせ、総合的に解析!
当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフォンの断面観察(CROSS BEAM FIB/SEM)” を掲載。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■加速度センサーの非破壊...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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大型試料(65mm×28mm)の断面作製と内部構造の観察事例をご紹介!
65mm×28mmの大型試料(膨張弁)の観察事例をご紹介します。 本試料は磁性材料が用いられており、SEM観察は像が歪んでしまうため、 光学顕微鏡による観察を主としました。 外観とX線透視観察で、X線では一部、透視されない箇所があることが わかりました。 【概要】 ■外観とX線透視観察 ■光学顕微鏡による断面観察 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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着色液や蛍光液を浸透させることにより、破断・剥離層の観察を行うことがで…
ことにより、 破断・剥離層の観察を行うことができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【インク浸漬試験の流れ】 ■インク浸漬(dye) ■引き剥がし(pry) ■光学顕微鏡やSEMによる観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…
■基板接合部機械研磨 +化学エッチング +イオンミリング 光学顕微鏡、SEMによる観察 ■FIBによる断面作成 SEMによる観察...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ!回路面を明…
たサンプルが多数あります。お困りのサンプルが ありましたら、当社にご相談ください。平面研磨のみのご依頼、観察や 分析をセットにしたご依頼、いずれも承っております。 【概要】 <平面研磨と光学観察> ■ガラス基板側から慎重に平面研磨を行い、ICチップの数μm手前までの 部材を削り落とし、回路面の観察を実施 ■ICチップ回路面は明瞭に確認でき、高倍率の詳細観察も可能になった ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…
(圧力センサ、加速度センサ、流量センサ、赤外線センサ、音響センサ など) MEMSアクチュエータ(マイクロミラー、RF MEMS など) 各種半導体(IC、パワーデバイス など) 光学素子(アパーチャ、レンズ など) 機能構造(poly-Si TSV など) 加工場所: オムロン株式会社 野洲事業所(滋賀県野洲市) ~ 8インチ半導体ライン 及び 8インチMEMS...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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ステージ駆動による広域イメージマップ!マジックの分布を可視化できた測定…
ことで、広域のイメージマップ測定が可能な TOF-SIMSの事例をご紹介します。 金属板に2種類の黒色マジックで描画し、広域(30mm×30mm)の イメージマッピング測定を実施。 光学像では2種類のマジックの識別が困難ですが、各マジックに特長的な 2次イオンピークでイメージマップを確認することで、マジックの分布を 可視化することができます。 この他にも、TOF-SIMS...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…
『卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察』についてご紹介です。 製品の信頼性評価において、クラックの断面観察は欠かせません。 光学顕微鏡観察では見落とす可能性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染…
い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物(CH,CN)、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周囲は光学像、SEM像及びEDX分析においても汚染と 思われるものが確認できないが、TOF-SIMSイメージマップでは微量の汚染物が 付着していることがわかりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いた...
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