日本ミルテック　基板外観検査装置　総合カタログ

プリント基板実装＆半導体外観検査装置の総合カタログです。

SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務などを行っている、日本ミルテック株式会社の「基板外観検査装置　総合カタログ」です。 次世代微細チップ部品03015の完全検査を実現した「基板実装向け3DAOI装置 MV-9」をはじめ、さまざまなSMT実装業界及び半導体業界...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

基板実装向け卓上型3D AOI装置『MV-3OMNIシリーズ』

待望の大型基板対応3D卓上機！ディスクリート部品用はんだ検査アルゴリズ…

『MV-3OMNIシリーズ』は、SMT部品からディスクリート部品の検査まで 好適なAOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光の位相の ズレから部品の高さを計測。部品の高さの違いから部品やICリードの浮き、 欠品等の検査が可能です。 また、8段階の照射角度の異なる5色(白、赤、黄、緑、青)の光を基板に 照射し、より不良箇所を際立たせる事で、不良検...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』

過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。

基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』は、過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。 その光の位相のズレから部品の高さが計測できます（反射型位相シフトモアレ法）。 この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。 その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

基板実装向け両面検査ソリューション『DSIシリーズ』

最終の両面検査で安心の品質保証を実現！課題を解決しました

当社で取り扱う、基板実装向け両面検査ソリューション『DSIシリーズ』 をご紹介します。 デュアルレーン装置を活用し、一般的な両面検査ラインの 課題を解決すると伴に、大幅に作業も向上。 また、デュアルレーンモデルの検査装置を使用する事で、基板の 搬送時間がキャンセル出来、片面検査装置2台分の検査が可能です。 【特長】 ■片面検査装置2台分の検査が可能 ■ライン長は約3.5...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社

2D卓上型AOI装置『MV-3L』

広域な領域を一括で撮像、検査が実施できる！10MegaPixel TO…

『MV-3L』は、Laser・Sideカメラを搭載し、不良検出力を向上した 2D卓上型AOI装置です。 10MegaPixelカメラを搭載し、4MegaPixelカメラを搭載した装置より 広域な領域を一括で撮像、検査が実施可能。高速検査を実現しました。 また、完全同軸落射照明を実現させ、隣接する電解コンデンサ等高い部品の 影響を受ける事なく、部品の極性検査、文字検査、部品マッチン...

メーカー・取り扱い企業： 日本ミルテック株式会社