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1147件 - メーカー・取り扱い企業
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PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします
当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...
メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社
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PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…
進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察 【受託依頼 フロー】 1） お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室
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欠陥の大きさを暗室内でも適確に判定！検査証明書付の欠陥指示ゲージ
『フィラーゲージ(HAT-FG100)』は、検査時に発見した欠陥の大きさを 暗室内でも適確に判定できるため作業効率を向上できます。 0.25~1.00mmの欠陥を目視で比較計測できる「HAT-PG01」と、1.25~ 3.0mmの欠陥を計測できる「HAT-PG02」のほかに、成績証明書とハード ケースが付属しています。 アフターケアも万全で、1枚の先端が損傷した場合は部品修理とし...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社エイチ・エー・ティー
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微少欠陥を逃さない！ご要望に応じて組み合わせ、お客様にとって好適な仕様…
『M109SC』は、大きなサイズの製品に対応した基板最終外観検査装置です。 【有効検査サイズ 300(W)×500(D)mm】 高画素カメラを採用し高分解能5µm仕様時の撮像幅をカバーするとともに、ユーザビリティを意識した検査設定方法により快適に欠陥検出を可能にしています。 ユーザー様毎の複雑な検査規格に合わせて細やかな設定が可能です。 ご要望に応じて検査仕様を決定し、お客様にとってベ...
メーカー・取り扱い企業： 太洋テクノレックス株式会社 和歌山
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セラミックス基板に好適な外観検査システム『TY-VISION』
セラミックス基板・パワー半導体の外観検査に好適！ TY-VISION…
『TY-VISION M109SC』は、大きなサイズの製品にも対応した基板最終外観検査装置です。 【有効検査サイズ 400(W)×500(D)mm】 高画素カメラを採用し高分解能5µm仕様時の撮像幅をカバーするとともに、ユーザビリティを意識した検査設定方法により快適に欠陥検出を可能にしています。 ユーザー様毎の複雑な検査規格に合わせて細やかな設定が可能です。 ご要望に応じて検査仕様を決定し、お客...
メーカー・取り扱い企業： 太洋テクノレックス株式会社 和歌山
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基板最終外観検査用 AIシステム『TY-VISION XAIS』
基板最終外観検査でお悩みの企業様必見！ その問題"TY-VISION …
基板最終外観検査用AIシステム『TY-VISION XAIS（ザイス）』をご紹介します。 AVI（基板最終外観検査装置）『TY-VISION』で検出した欠陥情報をXAIS（AIシステム）で"良品"と"要確認"に自動振り分けします。 XAISから受け取った"要確認"の箇所のみ検査者が確認し最終判定を実施。 検査者の確保、人件費、教育にかかる時間、 不良流出防止の為の検査工数など出荷前...
メーカー・取り扱い企業： 太洋テクノレックス株式会社 和歌山
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テフロンコーティングを長くお使い頂くためには選定や加工技術だけでなく、…
こちらではテフロンコーティングの品質検査の一部をご紹介します。 ■製品検査 打合せ事項及びご注文書通りであるかをお打ち合わせ議事録や図面、個別 をもとに確認を行います。 ■塗膜外観検査 加工塗膜を拡散昼光（相当）の下で目視により観察します。 原則として、膨れ、割れ、はがれ（層間剥離含む）、素地露出、すけが発 見された場合を不合格とします。 ■膜厚測定検査 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社吉田ＳＫＴ
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2.5μm 基板最終外観検査装置TY-VISION M111SC
その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか？ M111SCは…
微細欠陥の検出でお困りではないですか？ 【現在ご使用中の最終外観検査機についてお聞きします】 ＊検出に満足ですか？【YES・NO】 ＊虚報は少ないですか？【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇り、量産工程でも多数採用されています。 AIシステムのXAIS（ザイス）を追加す...
メーカー・取り扱い企業： 太洋テクノレックス株式会社 和歌山
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光沢性の強い鏡面反射する製品(塗装面・メッキ面など)の微小なキズ・凹凸…
実用新案も取得した独自の画像処理システムにより、従来の検査手法では困難であった光沢の強い鏡面反射する製品(塗装面・メッキ面等)の微小なキズ・凹凸・異物等の検査を実現した検査ユニットです。 スリットパターンを一定周期でシフトさせた際に生じる輝度変化が検査対象ワークに生じた欠陥の有無・形状によって異なることを利用して欠陥部を強調します。 対象ワークの表面状態や加工内容により発生する欠陥の種類は...
メーカー・取り扱い企業： バイスリープロジェクツ株式会社
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「SSMM-1R」は第32回中小企業優秀新技術・新製品賞において優秀賞…
『SSMM-1R(スリットシフト Min Max-1R)』は、塗装品(ツヤ有り)・ メッキ品・フィルム・ガラスのように、光を反射又は透過する製品の 表面の傷・異物の検出を行う検査ユニットです。 ユーザー様のご要望に応えて「SSMM-1」をリニューアルしました。 特殊スリットパターンを使うことで検出能力を高めたほか、 その特殊パターンを1周期シフトさせながら輝度差を取る事で、 曲面を...
メーカー・取り扱い企業： バイスリープロジェクツ株式会社
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エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる！非破壊で素材内部の微細な欠…
『超音波探傷システム』は、超音波波形データを画像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件（探触子・周波数・搬送系など） を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー／アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム
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高品質で効率的なデジタルX線透過試験（RT）を実現。医療AIの活用によ…
『DynamIx VU 5.0』は、富士フイルム独自の画像処理技術とUIにより スピーディーで高品質な検査を実現する画像診断ソフトの最新版です。 富士フイルム既存のD-RTシステムDynamIx HR2(CR)及びDynamIx FXR(DDA)に接続します。 医療分野で培った技術を活用し、さらに高精度な画像処理を実現。 UIを刷新して操作性も向上したほか、検査のサポートツールも拡充し...
メーカー・取り扱い企業： 富士フイルム株式会社 検査・測定
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ウェハ搬送ロボから自動外観検査装置まで、半導体用各種装置をご紹介！
伊藤忠マシンテクノスが取り扱う、アテル株式会社の『ウェハ欠陥検査装置』を ご紹介します。 全ての裏面プロセスを全自動で欠陥検出可能な「ウェハ裏面(表面)専用自動 欠陥検出装置」をはじめ、「ウェハ外観検査マクロミクロ装置」や 「卓上ローダー・ソーター...
メーカー・取り扱い企業： 伊藤忠マシンテクノス株式会社
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品質管理をスピーディに！金属製ワイヤーやコイル等のわずかな欠陥を正確に…
ローランド社『ECT40』はワイヤー・ケーブル、チューブ、コイルなどの金属製部材（半完成品）の欠陥検出専用装置です。 クラック等の欠陥によって生じる電流の変化をとらえて、 「溶接継目の表面」「溶接量」などを検出。品質管理の効率化に役立ちます。 【特長】 ■顧客のPCで操作可能（Win7/Win8対応） ■広い試験周波数レンジ（1‐12,000kHz) ■ライン速度に自動追従...
メーカー・取り扱い企業： ジャパンコントロールス 「Japan Controls Co. Ltd.」株式会社 東京本社
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端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット
■2D寸法項目：全長/全幅、ピッチ、位置度 等 ■3D寸法項目：コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高 等 ■計測取り込み時間 最速50msec以下！装置タクトに影響を与えません！ 〇欠陥検査機能の特徴 汎用画像検査ユニットと違い、半導体ICの欠陥検出設定が容易に行えるよう設計されています。 【特長】 ■異物付着、キズ、打痕、バリ等 の検出に対応します。 ■照明を複数切り替え、...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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プレス加工ワークを高精度欠陥検査で自動選別！金型交換サイクルを数値で管…
『PK2800』は、複雑な加工形状ワークに沿った高精度欠陥検査を実現した プレス加工品欠陥検査機です。 レーザセンサによる3D計測・ラインセンサによる2D計測を組み合わせた 計測ユニットにより、プレス打ち抜き時に発生する傷、破断を高精度に 計測し...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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ウェーハ欠陥検査システムの世界市場：パターン欠陥タイプ、発光欠陥タイプ…
本調査レポート（Global Wafer Defect Inspection System Market）は、ウェーハ欠陥検査システムのグローバル市場の現状と今後5年間の展望について調査・分析しました。世界のウェーハ欠陥検査システム市場概要、主要企業の動向（売上、販売価格、市場シェア）、セグメント別市場規模、主要地域別市...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社マーケットリサーチセンター
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