• セラミックス製 超精密測定器具【各種器具・冶具カスタマイズ可能】 製品画像

    セラミックス製 超精密測定器具【各種器具・冶具カスタマイズ可能】

    PR製造現場の基準を決定する超精密測定器具!高硬度のセラミックス製なので経…

    セラミックス製の超精密測定器具は『剛性に優れたわみにくい』『硬く、耐摩耗性に優れる』『温度による寸法が少ない』『耐食性に優れ、化学薬品に強い』『軽量』などのセラミックスの特性を活かし、直角度、平行度などをμ単位で超精密加工した直定規、四直角マスター、三次元セラマスターをお届けします。 各種冶具をはじめ、お客様の測定現場に合わせたカスタマイズも受け賜ります。 ※詳しくはお問い合わせいただくか...

    メーカー・取り扱い企業: 新東Vセラックス株式会社

  • 2線式レーダーレベル計 Pulsar『REFLECT』 製品画像

    2線式レーダーレベル計 Pulsar『REFLECT』

    PR上下水・河川のレベル計測、及び潮位計測に好適。 ※御手頃価格です。

    ■電波計(マイクロ波式、技適認証番号:209-J00487) ■計測レンジ:8m、20mの2機種 ■周波数:63GHz ■ビーム角度:6° ■外径寸法:135mm(高さ) x 102mm(直径) ■重量(センサ本体):1kg ■精度:2mm ■起動時間:ウォームブート5秒、コールドブート10秒 ■IOT接続に好適(河川レベル計測等) ■大気圧稼働温度:-40 °C ~ +80 ...

    メーカー・取り扱い企業: デレーコ・ジャパン株式会社

  • 『INA300』 製品画像

    『INA300』

    電流センス・コンパレータ 『INA300』

    『INA300』は、36Vローサイド/ハイサイド、過電流保護コンパレータ。 過電流保護アプリケーション向けの電流センシング・コンパレータで、シャント抵抗の両端に発生する電圧を測定し、その電圧を スレッショルド電圧入力レベルと比較することにより、過電流を検出します。電源電圧にかかわらず、0V~36Vのコモンモード電圧で 差動電圧信号を測定します。外付けの制限設定抵抗1つで...

    メーカー・取り扱い企業: 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社

  • Fastlite 社 製品画像

    Fastlite 社

    Fastlite社製品のご紹介です

    Fastlite社の製品は、主力製品のDazzlerを中心としたAOデバイス技術を駆使した製品が多く、 Dazzler   フェムト秒パルス整形装置 Wizzler   フェムト秒パルス測定装置 Phazzler  デュアルパルス整形/パルス測定装置 Mozza   多重オクターブスペクトラムアナライザー   などがあります。 その他にも、Frozzer、Dazscope、F...

    メーカー・取り扱い企業: プネウム株式会社 本社

  • 『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』 製品画像

    『半導体検査用コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』

    検査条件に合わせて柔軟に設計・製作。小ロットもOK。組立・配線・検査ま…

    その他:高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など 【製品例】 <コンタクトプローブ> ・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」 ・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」 <ICソケット> ・非磁性対応ソケット ・高耐熱対応ソケット <プローブカード> ・min80μピッチ対応プローブカード ・大電流負荷試験プローブカード ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社精研 本社

  • ウェハー加工 製品画像

    ウェハー加工

    「評価用パターンウェハー」「シリコンウェハー販売」「化合物半導体」のご…

    パターンウェハー」は、CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々な構造のテスト用パターンウェハーを作成。 数枚の試作評価でも問題無く受け付けており、マスクの設計から断面の 寸法測定に至るまで、非常に柔軟な対応に定評があります。 【特長】 <評価用パターンウェハー> ■CMP/成膜装置/洗浄装置/各種素材の評価用として、様々な構造の  テスト用パターンウェハーを作成...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • テレセントリックレンズ『KCM-07T』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-07T』

    重量75gのコンパクト設計!寸法計測やアライメントマークの位置合わせな…

    観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■ストレート ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • テレセントリックレンズ『KCM-07DT』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-07DT』

    高解像度、高コントラスト設計な同軸落射照明の両側テレセントリックレンズ

    検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■同軸落射照明 ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • テレセントリックレンズ『KCM-2DT』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-2DT』

    コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能!W.D.が65mm両側テレセン…

    検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■同軸落射照明 ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • テレセントリックレンズ『KCM-1T』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-1T』

    ピントズレでの像倍率変化やディストーションが少ないテレセントリックレン…

    観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■ストレート ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • テレセントリックレンズ『KCM-4T』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-4T』

    寸法計測やアライメントマークの位置合わせなどに!様々な装置に搭載が可能

    観検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■ストレート ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • テレセントリックレンズ『KCM-6DT』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-6DT』

    分解能が6μm!寸法計測や精密加工部品の外観検査などにご使用いただけま…

    検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■同軸落射照明 ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • テレセントリックレンズ『KCM-4DT』 製品画像

    テレセントリックレンズ『KCM-4DT』

    半導体業界や液晶業界、精密電子部品業界などに!高解像度、高コントラスト…

    検査などにご使用いただけます。 【特長】 ■ディストーションも少なく、高解像度、高コントラスト設計 ■同軸落射照明 ■両側テレセントリックレンズ ■ピントズレでの像倍率変化が少なく精密測定に好適 ■コンパクト設計で様々な装置に搭載が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学

  • 半導体 イオンゲージチューブ 製品画像

    半導体 イオンゲージチューブ

    装置関連保守部品を含めベストな品質、価格と信頼をご提供致します。

    【仕様】 ○測定範囲 1×10-3 ~ 2×10-10 ○X線リミット 2×10-10 ○コレクター O volts DC ○グリッド    +180 Volts DC ○フ...

    メーカー・取り扱い企業: セミバック株式会社

  • 【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 製品画像

    【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

    着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

    傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例としてCu表面を観察した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】トランジスタ内部の状態評価 製品画像

    【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

    デバイス内部の異常を非破壊で評価します

    外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】しるとくレポNo.99#SiCのMOSFETについて 製品画像

    【資料】しるとくレポNo.99#SiCのMOSFETについて

    MOSFETの性能はFoMといわれる性能指数で比較!メーカによって測定

    ★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ SiC MOSFETはSiと比べても高い耐圧を持ちながら、抵抗も小さいという 特長を持っています。 この特長を活かして、高耐圧のIGBTをSiCのMOSFETに置き替える製品が 多く見られます。 今回はMOSFETについて、お話ししたいと思います。 SiCのダイオードについて知りたい方はしるとくレポNO.12をご覧ください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Wave Technology

  • 【構造・プロセス解析レポート】デンソー製 SiC-MOSFET 製品画像

    【構造・プロセス解析レポート】デンソー製 SiC-MOSFET

    搭載チップはトレンチゲートを採用!電流センサーと温度センサー内蔵の12…

    IRAI水素燃料電池(FC)昇圧コンバーターにデンソー 内製としてSiC-MOSFETが採用、搭載されています。 SiC-MOSFETチップは200Aクラスの駆動電流で低ON抵抗(LTECで測定)と なっており、チップサイズは自動車用途としては最大クラスです。 【掲載概要(抜粋)】 ■製品、解析概要 ■レポート内容 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エルテック

  • 『LMH1219』  製品画像

    『LMH1219』

    リクロッカ内蔵12G-SDIアダプティブ・ケーブル・イコライザ 『LM…

    イミング・マージンを改善します。 また、リクロッカは内蔵のループ・フィルタを備えており、高精度入力リファレンス・クロックを不要にします。 非破壊アイ・モニタはシリアル・データをリアルタイムに測定でき、システムのシンプルなデバッグと迅速な基板設計を可能にします。 ※詳細はお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社

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