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    紙おむつ燃料化装置/日本製バイオマス燃料ペレット製造装置

    PR汚物がついたままポリ袋ごと処理可能な紙おむつ燃料化装置や、木質系をはじ…

    当社で取り扱っている『紙おむつ燃料化装置/日本製バイオマス燃料 ペレット製造装置』についてご紹介いたします。 紙おむつ燃料化装置「SFD-600/120」は、使用済みの紙おむつに燃料化処理を 施すことにより、優良な燃料資源に再生する装置となっております。 半乾式連続ペレット製造装置「FMPプレスペレッター」は、独・ミュンヒ社と 技術提携により開発された水分・油分・バインダーが入っている原料を ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社タイガーチヨダ

  • 2024年問題解決!荷役作業の合理化、安全性を実現する各種機器! 製品画像

    2024年問題解決!荷役作業の合理化、安全性を実現する各種機器!

    PR<2024年問題はじめ物流の課題解決>トラック荷役作業でラクな積込みと…

    「2024年問題はじめ物流の課題解決」に向けて、機械化が進んでいないトラックヤードにおける 積込み・荷降ろし作業をスピーディー、安全に行う事ができる各種荷役合理化装置を取り揃えております。 バラ積み荷役、パレット荷役、かご台車の荷役等、荷物の種類や使用場所、トラックの積込み、荷降ろし方法に応じて、 自動化、省力省人化など、少人数で荷役作業を行うことができる荷役装置をご提案しています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メイキコウ

  • 【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価 製品画像

    【分析事例】セラミックス表面における洗浄成分の分布評価

    洗浄成分の分布の可視化や深さ方向の分布の評価が可能

    本資料ではZr酸化物からなるセラミックス表面のぬれ性に寄与する洗浄成分について、表面分布および深さ方向分布をTOF-SIMSで評価した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:定性・分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    て注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パワーデバイス・製造装置・部品 分析目的:微量濃度評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価 製品画像

    【分析事例】セラミックスのぬれ性原因評価

    無機材料の親水・撥水箇所に特徴的な有機物の分析ができます

    要です。 本資料では、表面が撥水加工されているZr酸化物セラミックス材料において、撥水性低下の原因をTOF-SIMSを用いて評価した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品 分析目的:組成評価・同定 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法

    導結合プラズマ(ICP)を励起源として用いた無機元素分析の手法です

    い標準試料を比較的容易に調製することが可能です。そのため、溶液中の極微量な無機元素を精確に定量する場合に頻繁に用いられています。 ・高感度・低バックグラウンドな測定が可能なため、無機元素分析用装置としては最も低い含有量(ppt*あるいはサブpptレベル)を検出できます。(*:ppt:10-12g/g) ・定量分析の比較基準となる標準試料(標準溶液)の調製を柔軟に行うことができるため、不確か...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [GDMS]グロー放電質量分析法 製品画像

    [GDMS]グロー放電質量分析法

    特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

    GDMSは固体試料の組成について、主成分から微量成分まで同時に分析し、試料内に存在する不純物の半定量分析を行う手法です。濃度換算には装置付随の相対感度係数(RSF)を使用します。分析値は主成分元素と目的元素のイオン強度と、RSFから算出した値であり、半定量値です。 ・微量元素(ppbレベル)から主成分レベルまでのバルク分析が可...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [Slice&View]三次元SEM観察法 製品画像

    [Slice&View]三次元SEM観察法

    FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

    FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工(Slice)とSEMによる観察(View)を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XRD]X線回折法 製品画像

    [XRD]X線回折法

    XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

    ・結晶性物質の同定が可能 ・結晶子サイズの評価 (数nm~100nm)が可能 ・結晶化度の評価が可能 ・配向性の評価が可能 ・歪み量・応力の評価が可能 ・非破壊で分析が可能 保有装置の特徴 ・室温~1100℃までの加熱分析が可能 ・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能 ・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB(集束イオンビーム)加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能(Slice&View)...

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    【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価

    充電前後の電極の様子およびLiの存在・分布を評価可能

    イクル劣化が激しいと言われています。 充電前後のSi負極に関して雰囲気制御環境下で解体、観察をしました。更に、FIBマイクロサンプリング法により断面観察用サンプルを作成し、Csコレクタ付きSTEM装置で形状観察とEELS測定を行い、Si電極の様子と電極中のLi分布を評価しました。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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