透過密閉型 マイクロフォーカスX線源『G-511シリーズ』

PR先端半導体パッケージの非破壊検査に対応可能な 高解像度の X線源

『G-511シリーズ』は、素早い画像取得ができ、ターゲットの 回転調整不要の透過密閉型マイクロフォーカスX線源です。 ウォーミングアップは3分以内で立上げ時の長い待ち時間を解消。 X線管寿命の自己診断機能で、計画的な装置保守に貢献します。 【特長】 ■ 110kV昇電圧1秒以内 ■ ターゲットメンテナンスフリー ■ ウォーミングアップ3分以内 ■ X線管寿命の自己診断機能 ■ オプションで1...

メーカー・取り扱い企業： キヤノンアネルバ株式会社 栗木本社

【偏光ビームスプリッター】 ワイヤグリッドタイプ・キューブ型

PR【偏光ビームスプリッター】広い入射角でも安定した偏光分離性。光路がズレ…

WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ（WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品　WPC-11...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプティカルソリューションズ

ウェハ外観検査装置『ED-Scope』

ウェハ検査の常識を変える！誰でも簡単且つ定量的に目視検査・評価すること…

『ED-Scope』は、目視確認できなかった欠陥を可視化し、欠陥検査時間を 大幅に短縮するウェハ外観検査装置です。 オプティテック社独自の光学系技術と画像処理技術をコラボさせることにより、 これまで検査しても発見が難しかった欠陥を液晶モニター上に浮き上がらせます。 また、深さ(Z方向)はナノレベル、視野範囲(XY方向)はマクロ観察が可能となり、 短時間で欠陥を検出することが可能に...

メーカー・取り扱い企業： 伊藤忠マシンテクノス株式会社

平面形状測定装置『OptoFlat』

誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両…

『OptoFlat』干渉計は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を裏面の影響を受けることなく簡単に測定することが可能です。LED光源のため電源ONで即時に測定可能な上、アライメント補助機構により、初めて干渉計を使う方でも操作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減（裏面キャンセル厚さ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マブチ・エスアンドティー

【放射線利用事業】電子線利用サービス

医療・衛生用品などさまざまな製品の滅菌、高分子材料の特性の改善などをサ…

当社では創立当初より、サイクロトロンをはじめとする各種加速器を用いた 放射線利用技術の活用を広めるため、数々の開発や試験を繰り返してきました。 その結果、幅広い分野のお客様に、放射線を利用したさまざまなサービスを 提供しています。 『電子線利用サービス』では、電子線の持つエネルギーを活かして、 医療・衛生用品などさまざまな製品の滅菌、高分子材料の特性の改善などを サポートします...

メーカー・取り扱い企業： 住重アテックス株式会社

『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』

測定範囲最大4インチ！高速、高密度でのマッピングが可能な装置

『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』は、透過光源による、高速、 高密度で蛍光体材料のマッピング評価を行うことができる装置です。 100×100mmエリア、もしくは最大4インチの測定が可能で、 オプションでLED光源（447.5nm標準）切り替えもできます。 また、角度依存性（直角45°）や透過率測定も可能です。 【特長】 ■最大4インチの測定が可能 ■オプションでLE...

メーカー・取り扱い企業： ユアサエレクトロニクス株式会社