• 膜厚2Dマッピングシステム FALCO 製品画像

    膜厚2Dマッピングシステム FALCO

    PR薄膜の厚さ分布を高速測定!

    FALCO 膜厚2Dマッピングシステムは、おもにガラスや半導体ウェーハ上に形成された薄膜の厚さ分布を高速に、 また高い分解能で測定することのできるシステムです。 条件にもよりますが、数nmの薄膜からμmオーダーの比較的厚い領域(Si 換算)まで、 高い精度で値を確定することができます。...分解能: 0.001 nm 精度: NIST準拠ウェハ1000 nm<±1% 再現性: 0.01 nm(ア...

    メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社

  • ARO社ダイアフラムポンプ EXPシリーズ 粉体搬送ポンプ 製品画像

    ARO社ダイアフラムポンプ EXPシリーズ 粉体搬送ポンプ

    PR粉体搬送の自動化を実現!3Dプリント粉末、医薬品等に! 低コスト・迅…

    ARO社製 粉体搬送用ダイアフラムポンプは、一般的な乾燥プロセス流体の輸送システムに比べ、低コスト・迅速・清潔な粉体搬送を実現する製品です。 粉体コンテナからの直接搬送により、空気中からの異物混入を低減。 特許取得の空気誘導システムでパウダーパックアウトのリスクを回避します。 乾燥した状態の重量で721kg/m3までのカーボンブラックやシリカ、シリコン、アクリル樹脂、3Dプリント粉末、医...

    メーカー・取り扱い企業: タイヨーインタナショナル株式会社

  • SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析 製品画像

    SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

    SEM像の3D化でリークパスを確認

    裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice&Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice&Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法:Slice&View・EMS 製品分野:パワーデバ...

    • img_C0710_2.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析 製品画像

    【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

    深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

    深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出し...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XRD]X線回折法 製品画像

    [XRD]X線回折法

    XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

    ・結晶性物質の同定が可能 ・結晶子サイズの評価 (数nm~100nm)が可能 ・結晶化度の評価が可能 ・配向性の評価が可能 ・歪み量・応力の評価が可能 ・非破壊で分析が可能 保有装置の特徴 ・室温~1100℃までの加熱分析が可能 ・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能 ・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能 ...XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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