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小型電子部品専用気密検査装置|MUH-0100 series
小型電子部品の高感度リーク試験!ウルトラファインリークまでご提案【特許…
『MUH-0100シリーズ』は、「カプセル蓄積法」を採用した超微小漏れ測定専用の気密検査装置です。 当社では、超微小漏れの測定技術として、高感度のヘリウムリーク検出技術「カプセル蓄積法」を開発。 角速度センサや赤外線イメージセンサなどのMEMS部品や小型電子部品は、長い年月にわたって製品内部の密封性を保持する必要があり、高い気密性が求められています。 【カプセル蓄積法 特長】 ■4×10⁻¹...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フクダ
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