• 防爆スポットクーラー DGR-1A/3A-SP/SPS 製品画像

    防爆スポットクーラー DGR-1A/3A-SP/SPS

    PR産業安全技術協会(TIIS)検定合格品でゾーン1(第一類危険箇所)とゾ…

    防爆スポットクーラーは、危険場所のうちゾーン1(第一類危険箇)とゾーン2(第二類危険箇所)で使えます。 電源は三相200V、単相100Vの2種類。 冷媒回路は内圧防爆構造、制御回路は耐圧防爆構造、ユニットの装置はすべて防爆構造。 装置下部にドレンタンクを装備。 オプションにて電源コードの長さの変更可能(標準3m)本体の移動や固定に便利なキャスター・ストッパー付きです。 【特徴】 ○ゾーン1(第一...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同工業所 楠根工場

  • Moxa社製x86産業用コンピューター 製品画像

    Moxa社製x86産業用コンピューター

    PR産業用オートメーションの現場にフィット!x86産業用コンピューターBX…

    Moxa社の新製品『BXP/DRP/RKSシリーズ』は、 ボックスタイプ、DINレールマウントタイプ、1Uラックマウントタイプの 3つのホームファクターがベースの全75モデルからなる 堅牢性と信頼性に優れたコンパクトサイズのx86産業用コンピューターです。 現在、ファクトリーオートメーション、リテールオートメーション、 輸送オートメーションでの活用例をご紹介したアプリケーションノート...

    • BXPシリーズ製品画像.jpg
    • DRPシリーズ製品画像.jpg
    • RKPシリーズ製品画像.jpg
    • x86_IPCカタログ.jpg
    • x86_IPCアプリケーションノート.jpg
    • ユーザーアンケート案内画像.jpg
    • IPC新シリーズファミリー製品画像_背景白.jpg

    メーカー・取り扱い企業: アイ・ビー・エス・ジャパン株式会社

  • 半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像

    半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A

    端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

    高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品:表面実装型 ICパッケージ(BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA) 、イメージセンサ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』 製品画像

    高精度3D&2D検査ユニット『VM-A

    【サンプル評価可能!】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易!3D…

    高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。  3Dの寸法検査や高さのあ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • IC高精度外観検査装置『LI900W』 製品画像

    IC高精度外観検査装置『LI900W』

    半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー 車載製品 実績NO.1

    『LI900W』は、車載用IC等の高精度な検査が求められる製品の外観検査に適した装置です。 〇寸法検査  JEITA規格に基づいた寸法検査が搭載されています。  2D検査:全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端子径 等  3D検査:コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高 等 〇高精度欠陥検査 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg

PR