ロボット専用照明　ロボットライト

PRロボット専用照明「ロボットライト」すべてのカメラに同期・接続＆ケーブル…

分割照明を採用する際、照明のチャンネル数に比例して配線が多くなりがちですが、本製品は大幅な省配線化を実現しています。 １．圧倒的な省配線を実現　ロボットアームに這わすケーブルを「LANケーブル１本のみで可能」とする構成 ２．どんな産業用カメラにも接続可能　新たに特定メーカーのカメラを購入せず、今あるカメラを使用可能 ３．カメラ設定のみで照明の同期点灯が可能　照明にコントローラ（制御装置）が組み込...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社レイマック 本社

【B-402対応】イーサネットスイッチングハブ　ST13116M

PR【電力用規格B-402対応】防塵性（ファンレス構造・通風孔レス構造）に…

『ST13116M』は、電力用規格B-402に準拠した、防塵性（ファンレス構造・通風孔レス構造）に優れたギガビット対応インテリジェントL2スイッチングハブです。 一般的なインテリジェント機能（VLAN、経路切替機能、セキュリティ機能）および固有機能（装置自己監視、接点入出力など）を有しています。その他、RoHSをはじめ、電力規格B-402、接点入出力、装置自己監視機能（WDT）・NTP機能や...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社リョウセイ

【分析事例】Si表面近傍のBの深さ方向分布評価

試料冷却による高精度なBのプロファイル分析

デバイスの設計の上で特性に大きく影響を与えるSi中Bの濃度分布は、SIMS分析により高感度・高深さ方向分解能での評価が可能です。しかし、一般的な分析条件では、測定起因によりBの濃度分布に歪みが生じることがわかりました。 MSTでは試料冷却がこの歪み...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XRFによるウエハ上Au薄膜の付着量評価

薄膜成分の付着量を試料間で比較

蛍光X線分析（XRF）では、元素分布の簡便な評価が可能です。 本事例では、蒸着装置を用いて任意量のAuを成膜した4inchのSiウエハA・Bを試料として、Auの分布および総付着量の比較を行いました。 面分析の結果より、Auの分布状態が確認できました（図1～4）。また、各画素から得られたXRFスペクトルのAu強度より付着量を比較し、ウエハ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

潤滑油の塩基価測定（過塩素酸法）【電位差自動滴定装置】

塩基価に対応した試料量を正確に秤量！過塩素酸酢酸標準液によって滴定した…

定終点における変曲点が明瞭に現われる試料については変曲点を終点と しますが、変曲点が不明瞭な試料については、逆滴定法によって測定します。 なお、過塩素酸法にはA法（滴定溶剤120mL使用）とB法（滴定溶剤60mL使用） の二通りの試験法がありますが、当資料ではB法によって測定した例を紹介します。 【掲載内容】 ■測定の概要 ■装置構成および試薬 ■測定手順 ■測定条件例お...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）

電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによ…

ersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではSEM付属のEDXについて解説します。 ・測定範囲の全エネルギー（B～U）が同時に短時間で測定可能 ・検出効率に優れているので、少ないプローブ電流で測定が可能 ・特殊な試料を除き、前処理不要で手軽に分析を行える ・未知試料の分析に適している ・クライオホルダ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】SEG-LCDパネル表示不良解析

GC-MS分析やICP-AES分析など！化学分析により比較解析した事例…

液晶パネルに表示不良が発生した場合、再発防止のためその原因を解明する 必要があります。 本資料では、温度負荷によって表示ムラが発生したパネルAと表示不良が 確認されていないパネルBについて、化学分析により比較解析した事例を ご紹介。 アイテスは、観察などの初期解析にて原因が見当たらない場合、 液晶内部の化学分析から原因を探る事ができ、ここで挙げた手法以外にも 試料...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介！

樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。 使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、 信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。 本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の 変化結果をご紹介いたします。 【掲載内容】 ■（xyY）およびL*a*b*表示系について ■恒温恒湿試験（85℃ 85...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】CIGS太陽電池の各層の相互拡散評価

表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です

板側（裏面側）から測定することにより、Cd, Zn, OなどのCIGS層中への顕著な拡散がないことがわかります。（図4） 相互拡散の他にも、主成分（Cu, In, Ga, Se）の組成変化、不純物（B, Na, Fe）の濃度分布の評価が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】酸化ガリウムGa2O3膜の不純物濃度評価

不純物元素の定量評価が可能です

率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。ウエハの開発には、特性を左右する不純物濃度の制御が重要です。本資料ではGa2O3膜の不純物濃度分析を行った事例をご紹介します。 B,Cはバックグラウンドレベル以下、Siは存在していることがわかります。 MSTでは、Ga2O3標準試料を取り揃えており、30種類以上の不純物の定量が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC中ドーパント元素の深さ方向分析1

SiC中B,Al,N,P,Asについて、高感度で深さ方向分布の評価が可…

SiCはその物性からパワーデバイス材料として用いられていますが、Siとは異なりイオン注入後の熱処理によるドーパントの拡散が困難なため、多段イオン注入により深さ方向への分布を制御する必要があります。SIMS分析は高感度（ｐｐｍ以下）で深さ方向の不純物濃度を評価することができるため、SiC中のドーパント元素の分布評価に適しています。また、軽元素（H,C,O,Fなど）の分布についても評価可能です。評価し...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

して幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い（＜1atomic%）などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評価に有効です。本資料では測定例としてGaN基板のSXESスペクトルをご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ISCEF(アイセフ)「高速・大規模対応ソルバー」

大規模モデル・高度な問題にも対応！アイセフのソルバーをご紹介

く解くために様々なソルバーを備えております。 マルチコアにも対応しておりますので、大規模問題に対して 大きな効果を発揮します。 【ISCEFのソルバー】 ■反復法ソルバー（MRTR,BいCR） ■直接法スカイラインソルバー ■直接法スパースソルバー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： センチュリテクノ株式会社