AI画像処理選別機『AIHシリーズ』

PRAI画像処理により裏表両面を同時に検査し、異物や不良品を高速かつ高精度…

『AIHシリーズ』は、AIによる画像処理を用いて、ピンポイントで 食品や医薬品などに含まれる異物を除去できる選別機です。 高速コンベアから投げ出された材料をCCDカメラで表裏両面から同時に検査。 検出した異物は圧縮空気の噴射によって、的確に排除されます。 2方向から検査することで、異物や不良品の見逃しを最小限に抑制。 食品や医薬品錠剤など粒状の製品、長さ3cm以下の樹脂や金属部品など...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社服部製作所

電子機器の受託開発・設計（ハードウェア、FPGA、ソフトウェア）

PR画像技研は、幅広くお客様の開発をお手伝いします。（一貫した開発から部分…

●ハードウェア・ファームウェア・ソフトウェアのすべてにわたって、幅広くお客様の開発をお手伝いします。 ●画像の処理、圧縮、高速伝送、認識などで豊富な経験を持っています。 ●FPGAを使用したハードウェア処理により、高速処理、リアルタイム処理を実現します。...●ハードウェア 仕様書の作成から回路図、部品リストの作成、基板アートワーク、生基板作成、部品手配、実装、評価、調整までお引き受けします...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社画像技研

超小型分光器（CCDモデル）

装置に組み込める、ドローン搭載やハンディー型測定器に最適な最小マッチ箱…

42.0×14.5mmのマッチ箱サイズで、 60gの超軽量分光器です。サイズを優先した装置開発に最適です。分解能を重視した装置開発の場合には、Qwave を選択ください。2500ないし3648画素CCD検出器を内蔵し、16ビットで高波長分解能の測定データを提供いたします。OEM量産用の場合、特注仕様かつOEM価格に対応いたしますので、ご相談ください。 標準的な透過測定、吸収測定、反射測定の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

3次元表面形状／粗さ測定器

広範囲測定、高分解能、短時間測定(約10秒)、手のひらサイズ

機)は、白色LEDを用いた非接触式の3次元表面形状／粗さ(Ra／Rq／Rz)測定装置です。 5 mm×5 mmの範囲を一度に短時間(約10秒)かつ数 µmの分解能で測定できます。また本装置には、CCDカメラが内蔵されており、CCD画像との比較も行えます。 その他にもプションの透過照明を用いることで透明材料、紙の明暗、手動もしくは自動ステージと組合わえることで広範囲にわたる測定も行えます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

ファイバーマルチチャンネル分光器【ポータブルサイズ！】

低価格・短納期・高S/N比、CCD190～1200nm

StellarNet社製ファイバーマルチチャンネル分光器は、UV/VIS/NIR域スペクトル測定が簡単に行えるコンパクト・ポータブルサイズの小型分光器です。業界初の収差補正凹面グレーティング採用など、業界の先端製品を提供します。使い易いと好評のSpectraWizソフトウェアが標準で含まれており、アプリケーションソフトウェア、開発用ソフトウェアもすべて無償提供されます。 【特長】 ■実験用...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

顕微ラマン分光装置『Nanofinder FLEX』

ラマン・蛍光測定で透明試料(樹脂・フィルム・有機EL)の形状観察！

の他特長】 ■駆動部品なしで調整不要 ■ピエゾステージ(X-Y-Z)採用で送り精度はnmオーダー ■光ファイバーの採用でレーザー・分光器の設置場所は自由 ■お手持ちのレーザー、分光器、冷却CCD(ANDOR社製)使用可 ■定評あるNanofinderシリーズの2D・3Dソフトウェアを使用 ■デコンボリューションソフトウェア付で空間分解能はさらに1.5倍向上 ※詳しくはPDF資料...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

sCMOSカメラ pco.edge

高解像度･高速･低ノイズ16bit、sCMOS（scientific …

pco.edgeは新時代CMOSイメージセンサーといわれる、 sCMOS（scientific CMOS）を搭載した画期的なイメージングカメラです。 従来のCMOSおよびCCDカメラにはない、高分解能、低読出しノイズ、高フレームレート、広いダイナミックレンジが1台に凝縮されたカメラです。 pco.edge5.5は高解像度、グローバルシャッターとローリングシャッターモード...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

蛍光寿命測定装置・蛍光スペクトル測定装置

蛍光寿命測定装置を要望に合わせてカスタマイズ

、TCSPC : Time Correlated Single Photon Counting（時間相関単一光子計数法）を採用し、ナノ秒からマイクロ秒までの蛍光寿命測定が可能です。 高感度分光用CCD検出器や高性能分光器を組み合わせることで、PLスペクトル測定やPLE測定に対応。 また、ラマン測定などを組み合わせた複合化も対応可能です。評価の幅を広げられます。 既存の装置の流用や段階的なシ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ