• 3次元形状測定用ラインセンサCHROCODILE CLS2.0 製品画像

    3次元形状測定用ラインセンサCHROCODILE CLS2.0

    非接触ラインセンサCLS第二世代。高精度・高速・広範囲の3次元形状測定…

    幅  ■広い許容角度    反射面で±50° エッジや急斜面に対応可能  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    コンパクトなユニット、装置組込み用のソフト開発キット   (DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』 製品画像

    厚み測定-光学センサ『CHRocodile 2LR ver2』

    非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用…

    高精度な測定帯域は、16~1900um。線形性0.35um)  ■高分解能(サブミクロン 最小1nm)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ 製品画像

    CHRocodile 2 SX 光学式広範囲厚み測定センサ

    光学式センサで、Si0.5~200umの広範囲の厚み測定。5kHzの高…

           Siで0.5~200umまで対応。  ■高分解能(サブミクロン 最小3nm @ 光学長)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 光学式エリアスキャナFlying Spot Scanner310 製品画像

    光学式エリアスキャナFlying Spot Scanner310

    12inchウエハの全面厚み測定が可能。走査ステージレスで、振動の影響…

    , 分光干渉方式による高Z分解能  ■XYステージ不要でステージ振動無し    ガルバノミラーによるエリアスキャン  ■開発コスト低減、開発納期短縮    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)あり  ■用途    12インチウエハのウエハ全面厚み測定、貼り合わせウエハ厚み測定、ボイド検査 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

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  • 光学式エリアスキャナ「Flying Spot Scanner」 製品画像

    光学式エリアスキャナ「Flying Spot Scanner」

    振動の影響を受けずに高速エリアスキャン。オンライン、オフライン、品質管…

    , 分光干渉方式による高Z分解能  ■XYステージ不要でステージ振動無し    ガルバノミラーによるエリアスキャン  ■開発コスト低減、開発納期短縮    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)あり  ■用途    FPD,LCD用ガラス基板の厚み測定、ウエハのワープ(歪み)測定、レンズ形状検査、    PCBボード形状検査、小型精密部品の高さ測定など ※詳しくは資料を...

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  • 高速カメラ『CHRomatic Vision Camera』 製品画像

    高速カメラ『CHRomatic Vision Camera』

    インライン向けの高速で、高精度な外観検査用のラインカメラです。ウエハ検…

    (焦点深度3mmタイプは、2.9um)  ■多種の材料に対して高いコントラスト  ■高速で振動に強い  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意。    インターフェースとして、CameraLink、GigE使用可能。  ■半導体、コンシューマー家電、ガラス向け外観検査で実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わ...

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  • 非接触厚み測定 光学センサ「CHRocodile 2シリーズ」  製品画像

    非接触厚み測定 光学センサ「CHRocodile 2シリーズ」

    薄膜(数um)~厚膜(780um)まで高精度に測定できる幅広いプローブ…

    解能(サブミクロン 最小1nm)    「色収差共焦点方式」、「分光干渉方式」の原理による高分解能測定  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

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  • 小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』 製品画像

    小型光学式厚み/距離測定用センサ『CHRocodile C』

    コスト重視におすすめな安価なタイプ。厚み測定、距離測定用センサ。ウエハ…

    で、厚みは(数um)~厚膜(10mm)までカバー。  ■高分解能(サブミクロン Zは最小8nm~)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

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  • 厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』 製品画像

    厚み測定 - 光学センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』

    ドープウエハに適切な光源波長を使用し、難しいドープウエハ厚み測定に対応

    (数um)~厚膜(780um)までカバー。ドープウエハ対応。  ■高分解能(サブミクロン 最小1nm)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

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  • 小型で安価な高精度光センサ『CHRocodile Mini』 製品画像

    小型で安価な高精度光センサ『CHRocodile Mini』

    高精度・高速で、安価なシングルポイントセンサ。厚み・距離・高さ測定用に…

    10mmの3種類の    プローブラインナップ。  ■高分解能( Zはサブミクロン、XYは数um~)  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ...

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  • 3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』 製品画像

    3次元測定 - ラインセンサ『CHRocodile CLS』

    サブミクロン精度で高速・広範囲を3次元形状測定。エッジや斜面にも対応で…

    のライン幅  ■広い許容角度    反射面で±45° エッジや急斜面に対応可能  ■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、    コンパクトなユニット、装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)も用意  ■多業界で豊富な実績    半導体業界、コンシューマー家電、ガラス製造、メディカル分野 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。...

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