プレシテック・ジャパン株式会社 非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』

非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』 http://www.ipros.jp/public/product/image/bb0/2000413700/IPROS11704929474013049520.jpg 【その他の特長】 ■測定レンジ:2DW1000 50μm~8000μm (n=1)         2DW500 30μm~4000μm(n=1)        2DW250 15μm~2000μm(n=1) ■分解能:最大1nm(n=1) ■インターフェイス:Ethernet,RS422,アナログ(2ch) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 プレシテック・ジャパン株式会社 測定・分析 > その他計測器 > その他計測・記録・測定器
ドープウェハー測定に好適!非接触式で高精度・高分解能の安定性を実現!

『CHRocodile 2DWシリーズ』は、非接触でSi、SiCの厚み測定が
簡単に行えます。

サファイア等半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、
太陽電池等の厚み測定やドープウェハー測定に適しています。

干渉膜厚最大16層まで対応可能。対象物の傾きにも測定可能な
角度特性を実現しました。

【特長】
■非接触式
■高精度・高分解能の安定性を実現
■70,000Hzの高速サンプリング→R&Dからインラインに対応
■スポット径が小さく、分解能が高い測定が可能
■長い測定レンジで加工中、加工前後がこれ1台で可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』

【その他の特長】
■測定レンジ:2DW1000 50μm~8000μm (n=1) 
       2DW500 30μm~4000μm(n=1)
       2DW250 15μm~2000μm(n=1)
■分解能:最大1nm(n=1)
■インターフェイス:Ethernet,RS422,アナログ(2ch)

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■Si,GaAs,SiC,サファイア等半導体ウェハー厚み測定
 フイルム、樹脂、ガラス、液晶ギャップセル、太陽電池等の
 厚み測定やドープウェハー測定

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』

取扱企業非接触式センサ『CHRocodile 2DWシリーズ』

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■レーザーマテリアル加工 ■光学測定技術

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