【導入事例】LTE測定器の検査にJTAGテストを採用

高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！

導入したお客様をご紹介します。 当製品を導入することにより、Ｘ線検査では検出することができないハンダ不良やパターン不良を通電試験で確実に見つけることが可能になりました。 また、大規模なFPGAとDDRメモリを組み合わせたシステムは、ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへのフィードバックが困難でしたが、当製品を採用して、製造品質を改善することができました。 【事...

メーカー・取り扱い企業： アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部