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固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3 半導体ウェハ用
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢…
【測定対象】 半導体ウェハ (シリコンウェハ、ガリウム砒素 (GaAs) ウェハ、ガリウム燐 (GaP) ウェハ 、窒化ガリウム (GaN) ウェハ、シリコンカーバイド (SiC) ウェハ、サファイアウェハ、化合物半導体ウェハ、SAWウェハ) 【測定サンプルの...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アントンパール・ジャパン
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