共振周波数検査機「T8200PRO」（NFCタグ対応）

【LF帯・HF帯共振周波数検査機】 非接触ICカード、NFCタグ及び…

●NFC搭載製品やRFID各種製品におけるトラブル解決をサポート。 　RFIDの不良トラブルには様々な原因があります。 　例えば、「リーダライタとの共振周波数が合っていない」「内部アンテナが断線している」「製品に組み込むとうまく反応しない」などの場合、様々な原因が考えられます。 　この様な時、不良の原因特定、完成製品の検査にT8200PROをご使用頂けます。 ●共振周波数検査をもっと便...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テストラム

HF帯 量産向けRFIDテスター「T8200Shannon」

非接触ICカード、RFIDタグの共振周波数を最大32CHで高速に同時測…

量産を意識した、ICカード・タグの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。 同時測定数は2～32CH、一回の測定に必要な時間は、わずか0.15秒。 量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、 プレラミインレイやIC実装前のRFIDアンテナなど多面付けシート製品の全数検査に最適です。 さらに品質の安定したICカード・タグの出荷をサポートします。 検査ヘッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テストラム

HF帯RFID用パワー可変アッテネータ「TAT150」

電界強度レベルを減衰させ任意の出力で通信性能検査が可能

特長 ・TAT150のボリュームで電界強度レベルを減衰させ任意の出力で通信検査ができます。 ・T8200PROとの組み合わせで使用した場合、共振周波数測定に影響せず通信機能のID読取のみ設定された出力で検査対象からの応答があるか検査を行い、ICカード・タグ・NFCなどの動作レベルを確認できます。...使用用途 ・T8200PROでの使用 　徐々にパワーを絞ってどこまで応答できるかを確認する...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テストラム