• 半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』 製品画像

    半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』

    PR±0.5%以下の測定精度で、水質管理の信頼性を向上。評価結果などの紹介…

    『UPW UniCondセンサ』は、大手半導体メーカーとの共同開発により 堅牢な構造と高度な温度補正機能を備えた比抵抗計です。 環境温度やプロセス温度の変化による測定値の変化や 信号ノイズを防ぎ、高い温度補償比抵抗精度を実現。 半導体分野における水質の正確な把握と歩留まりの向上に貢献します。 【特長】 ■±0.5%以下の測定精度を実現 ■ノイズと水質変化による干渉を区別し、高...

    メーカー・取り扱い企業: メトラー・トレド株式会社

  • 【B-402対応】イーサネットスイッチングハブ ST13116M 製品画像

    【B-402対応】イーサネットスイッチングハブ ST13116M

    PR【電力用規格B-402対応】防塵性(ファンレス構造・通風孔レス構造)に…

    『ST13116M』は、電力用規格B-402に準拠した、防塵性(ファンレス構造・通風孔レス構造)に優れたギガビット対応インテリジェントL2スイッチングハブです。 一般的なインテリジェント機能(VLAN、経路切替機能、セキュリティ機能)および固有機能(装置自己監視、接点入出力など)を有しています。その他、RoHSをはじめ、電力規格B-402、接点入出力、装置自己監視機能(WDT)・NTP機能や...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社リョウセイ

  • DPIイミュニティ試験システム(半導体向けEMC試験) 製品画像

    DPIイミュニティ試験システム(半導体向けEMC試験)

    全てのEMC試験(イミュニティ試験)の工数削減・効率化に!

    数削減を実現します。 ○ 製品開発のフロントローディングでDPI試験を実施することにより、EMC耐性の高い半導体を選定できEMC対策の工数削減が見込めます。 DPIイミュニティ試験法とは、IEC規格で標準化されている半導体(IC)用のイミュニティ評価方法です。 評価するICを搭載したテストボード上のIC電源にRF妨害電力を直接注入し、イミュニティの耐性を評価する試験です。 試験は、試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

  • 減衰振動波試験器(IEEE C37.90.1-2012規格対応) 製品画像

    減衰振動波試験器(IEEE C37.90.1-2012規格対応)

    スイッチなどの開閉器がON/OFF時に発生する繰返しの速い高周波のノイ…

    当製品は、IEEE C37.90.1-2012規格対応の減衰振動波試験器です。 ○ IEC 61000-4-18(2006)規格に準拠した試験ができます。 ○ 電力規格B-402(2007)規格に準拠した試験ができます。 ○ IEEE C37.90-2012 規格に準拠した試験がで...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

  • 簡易放射イミュニティ試験システム 製品画像

    簡易放射イミュニティ試験システム

    RF放射イミュニティ試験(放射電磁界イミュニティ試験)が楽々!とっても…

    の設備で試験システムを構築します。 〇 簡易でも低コストで評価が可能な試験システムです 〇 高性能な近接アンテナを使用した試験システムです 〇 NGの再現に有効な試験システムです 〇 IEC 61000-4-3試験の事前検討で使用できます 〇 無線送信機からの電磁干渉の対策で使用できます 〇 電磁干渉による通信ロストの再現で使用できます 〇 試験はシールドルーム内でも実施できま...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
60件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 構造計画研究所バナー画像再提出_128541.jpg
  • 3校_0830_taiyo_300_300_260838.jpg

PR