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ヌル光学系を使わずに高精度かつスピーディに非球面を測定するスティッチン…
サブアパーチャーで被検面各部を最適な条件で測定し, 各部の測定結果をつなぎ合わせて被検面全体の表面形状を算定します. 従来のフィゾー干渉計と比べて, より広範な形状を高精度に測定することが可能になります. [製品ラインナップ] 1. ASI(Q) ・ 300mmΦまでの平面, 球面, 非球面の形状が測定できます. (より大口径への対応も可能) ・ 90°のスロープ(凸...
メーカー・取り扱い企業: QED Technologies International, Inc.
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