• CANブリッジ『Air Bridge Light HS』 製品画像

    CANブリッジ『Air Bridge Light HS』

    PR電波干渉しにくく、設定が不要。エアブリッジ最大70mの効果的な接続範囲…

    『Kvaser Air Bridge Light HS』は、設定不要のワイヤレスCANブリッジです。 Wi-FiやBluetoothとは異なり、独自に開発されたプロトコルを使用し、 1つのシステムを分割する周波数ホッピングスペクトラム拡散(FHSS)変調と 2.4GHzガウス周波数シフトキーイング(GFSK)を利用。 接続の待ち時間は約4.8ミリ秒で、エアブリッジ最大70mの よ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Renas

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

    当社では、透明素材(透明フィルム/シート、ガラス、ITOなど)の 『曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価 製品画像

    【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価

    ITO表面プラズマ処理後のUPS分析

    右されます。このため、表面処理や表面修飾等によって仕事関数を制御しようとする試みがなされており、それらの効果を検証することは重要です。 本資料では、有機ELや太陽電池等の電極材料として用いられるITO(SnドープIn2O3)について、表面プラズマ処理前後での仕事関数変化をUPS分析により評価した例をご紹介します。...

    • 仕事関数比較表.png
    • 仕事関数式.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 受託成膜・受託分析 製品画像

    受託成膜・受託分析

    各種成膜・表面処理・塗布加工や、受託測定のことなら当社へお任せください

    【各種成膜・表面処理・塗布加工詳細】 ■真空成膜加工  ・加工方法:P-CVD、スパッタ、蒸着、イオンプレーティング  ・膜種類:SiN、SiO2、DLC、ITO、Al2O3他各種メタルなど  ・基板:Si、ガラス、フィルム他 ■エッチング・表面処理  ・処理方法:P-エッチング  ・基板:Si、ガラス、フィルム他 ■塗布加工  ・処理方法:各...

    メーカー・取り扱い企業: アイゲート株式会社 本社

  • 【分析事例】組織切片上の N 結合型糖鎖のイメージング質量分析 製品画像

    【分析事例】組織切片上の N 結合型糖鎖のイメージング質量分析

    生体試料中の特定の成分(タンパク質・ペプチド・糖鎖など)の 分布を可…

    れるN結合型糖鎖構造の分布解析についてご紹介します。 ■分析試料  正常マウス肝臓 非アルコール性脂肪性肝炎(NASH)モデルマウス肝臓 ■分析方法 各マウス肝臓組織の薄膜切片をITOスライドガラスにのせ、 酵素処理により、切片上のN結合型糖鎖を遊離させました。 その後、空間分解能100 µmでMALDI-MSによるイメージング質量分析を行いました。 ■分析結果 正...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社カネカテクノリサーチ 本社、東京営業所、名古屋営業所、大阪分析センター、高砂分析センター

  • 【分析事例】Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価 製品画像

    【分析事例】Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価

    「重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析

    厚み1um以下の薄膜における水(H2O)の浸透性を、膜中の重水素(D)の分布を測定することで評価した事例をご紹介します。薄膜中にもともと水素(H)が存在する場合、水の影響による水素であるかを区別することが困難です。そこで、重水(D2O)による処理を行い、天然同位体である重水素の分布をSIMS※1にて深さ方向に測定しました。重水素の深さ方向分布を調べることで、水がどの深さまで浸透したかを推定すること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価 製品画像

    【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

    低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

    低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像(写真1)のコントラストはSTEM-EELS像のS, Cの元素分布(写真2, 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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