光学式三次元表面プロファイラー『smartWLIシリーズ』

垂直走査低コヒーレンス干渉法により、高精度なオンマシン計測・インライン…

『smartWLIシリーズ』は、GBS社が製品化した垂直走査低コヒーレンス 干渉法(CSI)を用いた三次元表面プロファイラー（白色干渉計、光学式三次元表面形状・粗さ計）です。 光学式三次元表面プロファイラーは、レンズ金型などの精密加工部品、自動車部品、電子部品、機能材料などの製造工程や品質検査において、表面の凹凸、傷、節目などの表面性状を非接触で測定を行えます。 三次元表面性状測定の...

メーカー・取り扱い企業： キヤノンマーケティングジャパン株式会社