• HDD/SSD評価技術サービス 製品画像

    HDD/SSD評価技術サービス

    HDD/SSDの評価(温度/湿度/サイクル/障害解析)を行っています。

    HDD(ハード・ディスク・ドライブ)/SSD(ソリッド・ステイト・ドライブ)の信頼性評価、高温高湿槽での耐久試験、サイクル試験、故障分解解析を行います。 HDDスクリーニング、SSDエージングにより初期障害率、フィールド偶発障害率の低減が図れます。 HDD中古品、在庫品、運用品、の性能確認にも最適です。 【特徴】 ○少量、一品でも対応 ○三映電子工業様との連携サービス 詳しくは...

    メーカー・取り扱い企業: ハヤシレピック株式会社 第3事業部

  • HDD/SSD/可搬媒体の評価/解析サービス  製品画像

    HDD/SSD/可搬媒体の評価/解析サービス

    機種選定・信頼性評価・故障解析・メーカ製造工場監査まで、ワンストップで…

    ユーロフィンFQLは、長年培ってきたノウハウをもとに、お客様 システムでの使用用途に合わせた機種選定と適した評価プランを提案し、 HDD/SSD/可搬媒体の長期信頼性確保に貢献します。 また、採用後に発生してしまった故障原因調査、データ復旧/消去まで、 ワンストップ でサポート致します。 【サービス】 ■機種選定 ■信頼性評価 ■性能評価(NVMe SSD) ■品質監査 ...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社

  • データ復旧サービス 製品画像

    データ復旧サービス

    大切なデータを再びお手元に。お客様のストレージ製品を調査・復旧します …

    データ復旧(データ復元・データ修復・データサルベージ) サービスとは、操作ミスによるデータ喪失や突然のハードウェア 故障や不具合などにより失われたデータを復旧するサービスです。 パソコンはもちろんのこと、サーバのRAID修復やスマートフォン、 デジタルカメラなどの各種メモリのデータ復旧まで対応可能です。 【当社のデータ復旧サービスの特長】 ■初期調査 ・最大限の復旧が可...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社

  • 台形波衝撃試験 製品画像

    台形波衝撃試験

    製品の衝撃試験はJBLへお任せください。 大型試験台+台形波+SRS解…

    製品の設計開発においては、流通過程や使用環境で発生する落下や衝突などを考慮して、製品単体の耐衝撃性能が定められています。この受託試験サービスでは、衝撃試験機を用いて製品単体の耐衝撃性(易損性、脆弱性)を評価します。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。 ...JIS C 60068-2-27 : 環境...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所

  • 外観検査・クリーンブース清浄度・各種検査サービス 製品画像

    外観検査・クリーンブース清浄度・各種検査サービス

    パソコン部品(HDD)、液晶関連部品、携帯電話端末等の部品検査はお任せ…

    田所製作所では、お客様からお預かりした製品、部品をお客様の製造ラインの一部となり各種検査を行います。お客様の製造工程の中で、工数、場所、コストの面から外注化をお考えの際は、ぜひご用命ください。...【検査一覧】 ■外観検査  ・パソコン部品(HDD)、液晶関連部品、携帯電話端末等の部品検査  ・安全衛生品の外観及び国内基準への手直し  ・製品をお預かりし、外観上の不具合を選別  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社田所製作所

  • 作業内容 HDD関連部品 外観検査(目視) クリーンブース内 製品画像

    作業内容 HDD関連部品 外観検査(目視) クリーンブース内

    HDD関連部品 外観検査(目視)の作業内容をご紹介します。

    田所製作所では、神奈川県相模原市において、お客様の製造ラインの一部を承り、各種検査、梱包、組み立てなどを請け負っております。 特に外観検査部門では、クリーンブース(クラス1000;1基:45平米)を4基完備し、顕微鏡(8〜35倍)、拡大鏡(2〜6倍)、目視にて、外観上の不具合を選別しております。 工数、場所、コストの面から外注化をお考えの際にはご用命ください。 【特徴】 ○固定費削減 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社田所製作所

  • XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 製品画像

    XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

    非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたし…

    株式会社アイテスでは、XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析を 行っております。 サンプルとXPSの光電子検出器との角度を変えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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