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PR膜厚の超高速読み取り機能とBluetooth(R)による測定データの転…
「エルコメーター456 膜厚計&ウルトラ・スキャンプローブ」は、 広い面積、多くの測定箇所で膜厚管理を要求される工事仕様で 素早く膜厚を測定し、データ編集・作成することができる膜厚計です。 毎分140回の速度で膜厚を測定することが可能で、測定値は膜厚計本体に保存。 保存されたデータはBluetooth(R)を使って、モバイル端末、PCに リアルタイムで転送、測定数値を編集アプリで管理することが...
メーカー・取り扱い企業: Elcometer株式会社 エルコメーター
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工具再研削盤『イプシロン』・画像工具測定器『ジャストスコープ』
PR多様な工具形状に対応したCNC工具再研削盤、工具寸法の高精度測定が行え…
当社では、工具を簡単にメンテナンスできる工具再研削盤『イプシロン』や、 寸法を簡単測定できる画像工具測定器『ジャストスコープ』を提供しています。 『イプシロン』は、工具形状を簡単に選択でき、 必要最低限のパラメータを入力するだけで工具データを作成可能。 専門的な知識や研磨の経験がなくても、工具のメンテナンスを行えます。 ※「PDFダウンロード」より製品情報をまとめたカタログをご覧...
メーカー・取り扱い企業: 菱高精機株式会社
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GaN基板のナノワイヤまたはナノチューブデバイスの数値解析ツール
デバイスシミュレーター(APSYS)で、GaN基板のナノワイヤ(nanowire)やナノチューブ(nanotube)構造のLEDを効率よく解析。デバイスのモデリングとシミュレーション例を紹介。試験的に15,000メッシュポイント(mesh points)の量子井戸(quantum well)を1個有する単体のナノチューブ(single tube)を計算。典型的なI-V特性計算に、OS:Window...
メーカー・取り扱い企業: クロスライトソフトウェアインク日本支社
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GPUによるFDTD計算の処理速度の向上
3次元レンズ構造およびCIS 3次元 CMOSイメージセンサーをベンチマーク例としてピックアップ。クロスライトのFDTDのGPUバージョンは3次元の実デバイス構造に対し66倍処理が向上。ベンチマーク結果は安価なGPUカードで、Core i7 3930K PC 10クラスター(60コアに相当する)と同等の処理速度を実現。...<主な特徴> ■半導体デバイス用の汎用2D/3D有限要素解析・設計ソフト...
メーカー・取り扱い企業: クロスライトソフトウェアインク日本支社
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