• 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長 1.シリコンウェハ(6インチ角以下) ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • VCC-GC20V41PCL 製品画像

    VCC-GC20V41PCL

    CMOS、 VGA、 500fps、 29mm角サイズの高速モノクロカ…

    500fps のスピードを実現した、29mmキュービックサイズ、重さ約50gの超高速カメラリンク出力カメラです。...500fps のスピードを実現した、29mmキュービックサイズ、重さは約50gの超高速カメラリンク出力カメラです。ボトル検査、ラベル検査、半導体やLCD、LED Wafer関連装置等、高速かつサイズを重視する組込用途に好適です。 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • VCC-120CXP1M(モノクロ)/ R(カラー) 製品画像

    VCC-120CXP1M(モノクロ)/ R(カラー)

    検査など高速・高画質で活躍!製品選定チャート付き資料進呈・無料デモ機貸…

    こんなシーンにご利用可能! ◆ 液晶・基板・半導体wafer・建築物等の外観検査 (欠陥/異物/形状) →どんな大きさの対象物でもヒトの目では検知できない微細な欠陥・異物・形状まで検出します。 ◆ 計測 →素材の歪みや疲労の計測・分析にご利用い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • ディスプレイモニタ代替品カタログ-3 製品画像

    ディスプレイモニタ代替品カタログ-3

    ディスプレイモニタ代替品カタログ-3

    半導体製造装置、産業機器、液晶製造装置、その他制御装置などに使用されているモニタの置き換えに最適です。○対応装置メーカ:AMAT,KLA-Tencor,GSI Lumonics,Watkins-Johnson,TEL・Varian,東京エレクトロン,神鋼電機,セイコーインスツル,大日本スクリーン製造,日立製作所,芝浦メカトロニクス,三菱電機 ○対応モニターメーカ:Boundless,三菱電機,Te...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エイブル

  • EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa 製品画像

    EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

    太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

    PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa 製品画像

    EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

    太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

    PVX1000+POPLI-Octaは、太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症し...

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    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    PVX1000+POPLI-μは、太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...製品特長 1.シリコンウェハ(6インチ角以下) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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