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歩留り低下を誘引する欠陥情報を速やかにマップ化する自動検査装置
微小凹凸欠陥を高感度・高速に検出し、露光・CMP等の後続プロセスでの 歩留り低下を誘引する欠陥情報を速やかにマップ化する自動検査装置です。 また、レビューステーションでは、マクロ検査で抽出された候補欠陥に対して、 レーザー顕微鏡による三次元自動測定を行い欠陥P-V値等の詳細データを ユーザーに提供、プロセスの安定化に寄与します。 【特長】 ■微小凹凸欠陥(チャック痕・放電痕...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティマ https://www.optima-1.co.jp/
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