基板実装部品の断面観察

PR信頼性試験前後の観察や断面観察に！実装された各種部品の観察例をご紹介

当社で取り扱う『基板実装部品の各種断面観察』をご紹介いたします。 身の回りにある様々な電子機器の内部には、電子部品が搭載された 基板があります。実装基板を観察すると、多数の部品が所狭しと はんだ接合されているのが分かり、部品が正しく接合されていないと 正常に動作しないため確認が必要です。 信頼性試験前後の観察や断面観察をご検討の際はお問い合わせください。 【観察例(一部)】...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【防水・防塵・耐衝撃・耐熱】幅広い業界に活用できる防水ケース

PR使い勝手の良さで選ばれる！幅広く活用できるよう開発された防水ケース。特…

『パナロ』は、従来型の防水ケースと同機能を持ちながら、 幅広い業界に提供する目的で開発されたケースです。 射出成型による一体構造のボディは、堅牢性に優れ、IP67の防塵と 防水性もあり、収納機材に合わせた内装加工等のカスタマイズも可能です。 砂漠や寒冷地等の過酷な環境下でも使用できます。 【特長】 ■素材の「ポリプロピレン樹脂」は－30℃～＋90℃の温度領域に対応 ■「射...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エミック 大阪本社

【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価

温度保持中の脱ガス強度の変化を調査できます

持した状態で、脱離するガスをリアルタイムに検出する手法です。 Si基板上SiN膜について350℃で温度を保持し、H2の脱離量を調査した例を示します。 単純昇温では500℃付近に脱ガスピークが確認されましたが、350℃で温度保持中はH2の検出強度は低下し、再昇温時に脱ガスピークが確認されました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST