• 【Tibbo-Pi導入事例】屋外イベント入退場管理システム 製品画像

    【Tibbo-Pi導入事例】屋外イベント入退場管理システム

    PR屋外会場の3万人を把握する入退場管理システムのTibbo-Pi導入事例…

    産業用品質のIoTエッジ&ゲートウェイデバイス「Tibbo-Pi」の 導入事例をご紹介します。 「入退場管理システム」は、参加者の安全確保とイベントの運営効率化を目的として 第23回世界スカウトジャンボリーにて導入されました。 スタッフ、参加者に「非接触型ICカード」を配付し、各エリアのゲートや 食事テントなどで「3G_RFIDリーダー」で情報取得を行いました。 IoTを活...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コー・ワークス 仙台本社

  • 【検査工数大幅カット】『検査表システム』 製品画像

    【検査工数大幅カット】『検査表システム』

    PRCADデータ(DXF/DWG)PDFデータから検査成績表を自動作成! …

    【こんなことにお困りではありませんか?】 ■検査成績表の作成に時間がかかる ■データの取り込みが面倒 ■検査成績表の形式を完成後に指定のファイルに変換していて不便 など そのお困りごと、アンドールの『検査表システム』が解決します! 『検査表システム』は、DXF/DWG/PDFデータ(*1)を変換なしで読み込み、図形を囲んで選ぶだけで、寸法線属性を自動抽出し、検査成績表を自動で作成...

    メーカー・取り扱い企業: アンドール株式会社 ITプラットフォーム営業部 

  • 【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価 製品画像

    【分析事例】TDSによる温度保持中の脱ガス評価

    温度保持中の脱ガス強度の変化を調査できます

    持した状態で、脱離するガスをリアルタイムに検出する手法です。 Si基板上SiN膜について350℃で温度を保持し、H2の脱離量を調査した例を示します。 単純昇温では500℃付近に脱ガスピークが確認れましたが、350℃で温度保持中はH2の検出強度は低下し、再昇温時に脱ガスピークが確認れました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成れることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出れることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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