• 12.1インチ組込み用高輝度ディスプレイ ULO1215-NXT 製品画像

    12.1インチ組込み用高輝度ディスプレイ ULO1215-NXT

    PRLITEMAX ,組込みに好適,静電式タッチ, 太陽光の下でも見える高…

    特長 ■12.1” TFT LCD, LED Backlight ■太陽光の下でも見える高輝度(1000cd/m2)液晶パネル採用 ■表示サイズ:245.760(H) x 184.320(V) ■超寿命LEDバックライト採用(MTBF: 100,000時間) ■静電式タッチに対応 ■表示解像度 1024x768 ■幅広い動作温度 -20~70˚C ■VGA, DVI-D, HD...

    メーカー・取り扱い企業: サンテックス株式会社

  • CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用) 製品画像

    CZ/高抵抗FZ 各種ウェーハ販売(評価・開発・テスト用)

    PR少量ウェーハに対応!研究・テスト用途に便利なウェーハ販売サービス! ハ…

    【取扱商品】 *CZ・FZ・拡散ウェーハ・SiC・SOI・EPI・GaAs・SiGe・GaSb・サファイア・ゲルマニウムなど様々な半導体用ウェーハを扱っております。 *プライム・テスト・モニター用ベアウェーハ(高精度ウェーハ・パーティクルチェック用・COP対策品等) *SOIウェーハ:高抵抗デバイス層、基板も対応可、ウェーハを支給していただきSOIウェーハへ加工することも可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エナテック 東京本社

  • SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2 製品画像

    SUSS MicroTec 両面位置精度測定器 DSM8Gen2

    ウェハ表面/裏面のパターンの位置ズレを高精度で測定

    DSM8/200 Gen2は2~8インチウェハに対応した両面位置測定装置です。 TIS(装置起因誤差)を除去する機能を備えており、MEMS、パワーデバイス、光デバイスといった分野の両面パターニング基盤において、高精度な測定を実現しています。...・装置仕様  対応基板サイズ:2~8インチウェハ  測定精度:0.2um (3σ)  可視光観察  非接触プリアライナー ・オプション ...

    メーカー・取り扱い企業: 兼松PWS株式会社

  • SUSS MicroTec 手動マスクアライナMJB4 製品画像

    SUSS MicroTec 手動マスクアライナMJB4

    最大4インチ角基板対応 手動露光機

    ズースマイクロテックMJB4は最大4インチ角基板まで対応可能な手動式マスクアライナ(露光装置)です。 シンプルな操作性、高精度アライメント、高い露光解像性が特徴です。 研究開発用途以外に少量生産用途でもご使用頂けます。...・対応基板サイズ 小片 5×5mm~最大φ100mm ※100×100mm対応はオプション ・露光モード コンタクトソフト, ハード, バキューム ギャップ露...

    メーカー・取り扱い企業: 兼松PWS株式会社

  • SUSS MicroTec 手動マスクアライナMA/BAGen4 製品画像

    SUSS MicroTec 手動マスクアライナMA/BAGen4

    最大8インチ対応角基板まで対応可能 セミオートアライメント対応露光…

    ズースマイクロテック MA/BA GEN4 は最大8インチ角基板まで対応可能なセミオートアライメント対応の露光機です。MEMS、光学部品の製造、化合物半導体などのR&D、少量生産用途に対して最適な装備を備えています。最適化されたアライメントマーク観察光学系と画像処理機能によりバラツキの少ないアライメントが行えます。...・対応基板サイズ MABA6 : 小片~最大φ150mm MABA8 : ...

    メーカー・取り扱い企業: 兼松PWS株式会社

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