GMP仕様対応可能 解砕・分散分級が実現！ 『FSハイシフター』

PR驚異の縦振幅を実現し、解砕・分散分級！超音波発生装置が不要で、微粉・油…

「粉体が目詰まりしてしまう...」「振動で解砕も同時にできれば目詰まりしないのに...」「超音波発生装置は高いし...」こんなお困りごとはございませんか？ 『FSハイシフター』は波動運動によりスクリーン上の材料が激しく跳ね上げられスクリーンに衝突、材料の凝集は解砕・分散され分級効果が増大します ナイロン網による分級の為、ランニングコストが低減！ 網たたきも不要な事からコンタミのリスクを低...

メーカー・取り扱い企業： 日東機器ファインテック株式会社

流体・原料をムラなく加熱！マイクロチャネルインラインヒーター

PR軽量・コンパクト/設置場所を選ばずに流体を昇温できるデバイスです！

WELCON製のマイクロチャネル熱交換器(インラインヒーター)を紹介します。 【特長】 ・材質：SUS316L(拡散接合製、ろう材不使用で漏れにくい) ・サイズ：41*84*33mm ・質量：約500g ・導出入口：Rc1/8 ・ヒーター出力：600W ・耐熱温度：150℃ ・仕様はカスタマイズ可能ですのでお問い合わせください！ 【おすすめ用途】 ・熱媒加熱 ・薬剤加熱 ・モノマー加熱　 ・樹...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社WELCON 本社

インライン型ウェハー測定モジュール

インライン型ウェハー測定モジュール

インラインでのウェハー/セルの全数検査、ソーティングが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

エレメント交換型フィルタ　『H-600シリーズ』

ステンレス316製、高温・高圧対応ティ型＆インラインフィルタ『H-60…

H-600シリーズは、エレメント交換が可能なティ型及びインライン型フィルタです。豊富な濾過レベルのエレメントをご用意しお客様のご要望にお応えします。システム構成部品を流体中の粒子や混入した異物から守ります。定期メンテナンス時にエレメントを交換する事により、シ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ハムレット・モトヤマ・ジャパン

株式会社ジャステム　事業紹介

測定機・加工機・専用機・自動化設備の製造販売の株式会社ジャステム

式などの測定方法、クランプ方式、 　自動機・手動機などを選択可能 →測定値の出力も表示のみからPC取り込み・演算・マッピングなど 　各種ソフトの対応が可能 →スタンドアローンだけでなく、インライン化のご要求にも対応可能 ○省力化装置 →省力化によるコストダウン・タクト向上・歩留まり向上などの要望に対応 →ローダ・アンローダから検査補助装置・移載機・洗浄機などを製作 →構築予定ライ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム

太陽電池セル外観検査装置

出力線のズレ、セル間のピッチ、セルのカケ・クラックなどを高精度で検査

とラインセンサーを選択して使用 ○自社開発の検査ソフトウェアのため、納入後の追加や変更にも迅速に対応 ○画像処理ユニットを始め、搬送部分も自社工場にて製作 →御要求に柔軟な対応が可能 ○インライン検査、オフラインでの検査装置等、ご相談を承ります ［検査項目］ ○セル割れ・セル欠け・フレーム傷・異物付着・タブずれ・気泡　など ［検査能力］ ○画像処理時間：10sec/module（...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヒューブレイン

協立テストシステム株式会社　事業紹介

協立テストシステムはあらゆる基板の検査に対応させていただきます。

品の、開発、製造、販売、サービス 【製品ラインナップ】 ○インサーキットテスター ○外観計測検査装置 ○ファンクションシステム構築環境ソフト ○Function検査モジュール ○インライン型全自動テスター ○IC・BGAテスター ○バーンインボードテスター ○ICTテストフィクスャー ○ファンクション検査冶具 ○ワンショット画像チェッカー ○X線自動検査装置 ○Ag...

メーカー・取り扱い企業： 協立テストシステム株式会社

ライフタイム測定装置

u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…

測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

外観検査装置（ACI-02型）

合否判定装置

・オプションで各種キズ・カケなどの検出に対応します。 ・インライン化にも対応します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ジャステム

Junction Photo Voltage(JPV)

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

も測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラットフォームWT-2000、WT-2500、WT-3000やインラインのウェハーテスト装置に組みつけが可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

PV-Cell外観検査システム

独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出可能！

カメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出します。独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出する事が可能です。印刷パターン、Crack、欠け、寸法などの検査が可能で、インライン検査にも対応可能です。用途に応じて高画素2次元カメラとラインセンサーを選択して使用します。また、自社開発の検査ソフトウェアのため、納入後の追加や変更にも、迅速に対応いたします。さらに、画像処理ユ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヒューブレイン