• 【NEW】カスタムクランパーAUW08<M-Tech名古屋出展> 製品画像

    【NEW】カスタムクランパーAUW08<M-Tech名古屋出展>

    PRエアを供給するとシャフトをアンクランプ、遮断するとシャフトをクランプ!…

    新製品!カスタムクランパー エアを供給するとシャフトをアンクランプ、遮断するとシャフトをクランプ。 両端に追加されたリニアブッシュにより、スラスト荷重を受けることが出来ます。 カスタムクランパーをならいユニットに使用すれば、素子の配置パターン替えも容易になります。 高さ調整や位置決め、Z軸の落下防止用途、治具、ロボットハンドなど、様々な用途にご利用いただけます。 【使用例】 ■ワー...

    メーカー・取り扱い企業: トークシステム株式会社

  • ハイスピード空圧衝撃試験装置『SY11G-100』 製品画像

    ハイスピード空圧衝撃試験装置『SY11G-100』

    PR高い再現性の衝撃試験を実現。基礎工事が不要で、設置も省スペース。最大3…

    ハイスピード空圧衝撃試験装置『SY11G-100』は、MIL、JIS、IEC、DINなど 各種規格に基づく衝撃試験を高い再現性で安全に行える製品です。 最大速度変化15.6m/s、最大加速度5,000G(オプション:30,000G)、 作用時間0.1~60msec、最大搭載重量100kgで、高い再現性を実現。 落下の高さ、シリンダー内の圧力を調整することで、 速度変化・加速度・作...

    メーカー・取り扱い企業: エア・ブラウン株式会社 電子機器部

  • ICカード用モジュール剥がれ検査装置 製品画像

    ICカード用モジュール剥がれ検査装置

    出荷後にわたって、「安心」を差し上げます。テストラムのICカード生産装…

    【仕様】 ■参考外形寸法:本体2800W×1800H×900D(mm) ■要求設備  ・三相200V30A  ・エア0.5Mpa 70L/min ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テストラム

  • 接触・非接触ICカード検査発行装置 製品画像

    接触・非接触ICカード検査発行装置

    IDデータはホストPCで管理!2次発行前の、品質への安心を強力サポート

    値測定  ・レーザーマーキング ■参考外形寸法:本体6000W×1800H×1000D(mm)  (接触・非接触20連発行装置、フルスペック型) ■要求設備  ・三相200V30A  ・エア0.5Mpa 70L/min ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テストラム

  • 接触・非接触COT検査発行装置 製品画像

    接触・非接触COT検査発行装置

    出荷・受け入れ時点での、モジュールへの安心。大量生産を強力に支援します

    外観検査部(COT端子表面傷汚れ検査・モールド面形状位置ずれ検査)  ・不良パンチ部 ■参考外形寸法:本体3500W×1800H×900D(mm) ■要求設備  ・三相200V30A  ・エア0.5MPa 70L/min ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テストラム

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