• LTE / 5GNR(FR1・FR2) MIMO OTA試験 製品画像

    LTE / 5GNR(FR1・FR2) MIMO OTA試験

    PR数分の位置調整で最大スループット接続が実現

    近傍界測定を特長とする弊社アンテナカプラの性能を最大限に発揮し、LTE/5GNR端末のMIMO OTA試験に特化した シールドボックス(FS-2310)です。 LTE、SUB6(FR1)、ミリ波(FR2)バンドのMIMO試験をOTAにて手軽に実現します。 また、最高転送速度での連続長時 間試験に端末が耐えられるように端末冷却専用のファンを内部に2台まで搭載することが可能になっています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 森田テック株式会社

  • 高速シーリング 着脱ツール『FasTestクイックカプラ』 製品画像

    高速シーリング 着脱ツール『FasTestクイックカプラ』

    PRリークテストおよび流体移送プロセス用の繰り返し着脱できるコネクションツ…

    リークテストおよび流体移送プロセス用の繰り返し着脱できるコネクションツール。工具やシール材を使用せずに高速配管を繰り返すことが可能です。 リークテストなど、繰り返し配管が必要なシーンにおいて、安全性の向上や、作業者への負荷軽減、作業時間の大幅な短縮が見込めます。 【総合カタログ 掲載内容】 ■セレクションガイド ■内部グリップ型 着脱ツール ■外部グリップ型 着脱ツール ■特定...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大手技研

  • 『TWC試験』 チューブラー・ウェーブ・カプラ 製品画像

    『TWC試験』 チューブラー・ウェーブ・カプラ

    自動車試験 TWC試験法に対応!

    【CF30000校正治具】は、BI30000シリーズ・チューブラー・ウェーブ・カプラを使用した伝導イミュニティ・テスト向けに設計された治具。主な仕様は以下のとおり。 (1)周波数範囲:400MHz~3GHz (2)校正出力(max.W):4CW (3)入力インピーダンス:5...

    メーカー・取り扱い企業: 日本オートマティック・コントロール株式会社 電子システム部

  • 『INS-1250』 半導体試験機 製品画像

    『INS-1250』 半導体試験機

    半導体のEMC規格に対応したサージ専用試験機

    半導体や絶縁製品に対して要求される 1.2/50μsのサージ・インパルスのEMC試験機です。 直接印加することができる専用の評価ボードや基盤があるため、簡単に試験が可能です。 フォトカプラやデジタルアイソレーター、磁気カプラの要求規格に対応します。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本オートマティック・コントロール株式会社 電子システム部

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