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    製造現場で簡単測定!ポータブル型接触式表面粗さ測定機(粗さ計)

    PR【短納期・デモ機有】全数検査したい、プリンターが邪魔、現場の"…

    ハンディ表面粗さ計使用時にありがちな測定課題を、 Mahrの最新型粗さ測定機が解決します!       ↓ 例えば ↓ ■ 測定課題 ■【PDFダウンロードより資料進呈中】  1. プリンターが邪魔で測定しにくい     ➡小型無線プリンター採用・取回しの良い本体  2. 全数粗さ測定をしたい     ➡製造ラインでの評価測定・遠隔操作可能  3. 測定対象物が変わるたびに...

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    メーカー・取り扱い企業: マール・ジャパン株式会社

  • 光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』 製品画像

    光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』

    PR輝度回復と歩留まり改善。光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』な…

    \非接触で洗浄!/ 光学部材用金型洗浄機『クリピカエースOPT』は、デリケートな光学部材用の金型に付着した汚れをノーダメージで完璧に除去します。ガス焼け、樹脂汚れに対応。ナノ、ミクロレベルの汚れも逃さず除去します。 【従来の光学部材の金型メンテナンス】 ●綿棒やスワブなどを使って手作業で行う ●キズがつきやすいため細心の注意が必要 ●充分に汚れが取れないことも ●有機溶剤を使用する...

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    メーカー・取り扱い企業: ソマックス株式会社

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    パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』

    狙った欠陥を確実にキャッチ!パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…

    イオード用チップ:3×3mm~20×20mm ■対象トレイ:2インチ/4インチ チップトレイ ■サイクルタイム:0.9sec/pcs(2sec/pcs) ■上面検査:クラック、バリ、異物付着、キズ、スクラッチ、変色、シミ、汚れ等 ■下面検査:クラック、バリ、異物付着、キズ、スクラッチ、変色、シミ、汚れ等 ■ユーティリティ  ・供給電源:3Phase AC200V±10% 4KVA  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • 半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』 製品画像

    半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

    端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

    速50msec以下!装置タクトに影響を与えません! 〇欠陥検査機能の特徴 汎用画像検査ユニットと違い、半導体ICの欠陥検出設定が容易に行えるよう設計されています。 【特長】 ■異物付着、キズ、打痕、バリ等 の検出に対応します。 ■照明を複数切り替え、欠陥モードにあった照明条件を追加可能です。 ■良品バラツキに追従し欠陥検出を行う検査ツールなど、様々なツールが標準搭載されています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • プレス加工品欠陥検査装置『PK2800』 製品画像

    プレス加工品欠陥検査装置『PK2800』

    プレス加工ワークを高精度欠陥検査で自動選別!金型交換サイクルを数値で管…

    【主要諸元(一部)】 ■対象ワーク:別途お打ち合わせ(対象品形状種類により段取り替え要) ■検査部 検査項目  ・レーザセンサ:金型劣化により加工時に発生する 表面の線キズ  ・検出能力:長さ1mm、幅0.1mm、深さ5um以上のもの  ・ラインセンサ:金型劣化により加工時に発生する表面破断(ムシレ)  ・検出能力:正常部とのコントラストが得られる長さ・幅 0....

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • リードフレーム&ダイボンドチップ自動外観検査装置『FV100L』 製品画像

    リードフレーム&ダイボンドチップ自動外観検査装置『FV100L』

    クリーン仕様!リードフレーム・ダイボンドチップの自動外観検査を実現!

    ンディングパッド上異物  ・チップ表面へのハンダ飛散 ■検査項目:リードフレームの外観検査  ・異物付着  ・リード欠陥  ・リードバリ  ・エッチング不良  ・メッキ不良  ・メッキズレ  ・キズ/欠け/削れ  ・打痕  ・曲がり ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • IC高精度外観検査装置『LI900W』 製品画像

    IC高精度外観検査装置『LI900W』

    半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー 車載製品 実績NO.1

    コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高 等 〇高精度欠陥検査  高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を実現します。 【検出欠陥モード】  異物付着、キズ、カケ、剥離、端子欠損、マーク不良 等 〇その他特徴  ・JEDECトレイ対応  ・多彩なオプションラインナップ   側面検査機能、テーピング収納機能、異物除去機能 ※詳しくは...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • チップ自動外観検査装置『CI200D/CI300D』 製品画像

    チップ自動外観検査装置『CI200D/CI300D』

    ダイシングフレームモデル!10msec/イメージの高速取り込みにより高…

    『CI200D/CI300D』は、パワーデバイス、フォトデバイス、光学フィルタ LED他のウエハダイシング後に発生する欠け・クラック・キズ・異物等の 欠陥を外観検査する装置です。 ダイシングフレーム上の個片化されたチップを自動認識し、個片毎に 高精度な欠陥検査を実施。 結果に基づき、良品・不良品の判定をし、マップデータ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

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    セラミックス基板自動外観検査装置『FV203CR』

    表面及び裏面の両面検査に対応!高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を…

    『FV203CR』は、パワーデバイス用個片セラミックス基板の表/裏面に 存在するバリや欠け、クラック、キズ、汚れ、変色、ろう材はみ出し、 異物、膨れ/凹み欠陥等の外観検査を行う装置です。 セラミックス基板が収納されたマガジンやトレイ等をセットする事で、 セラミックス基板表/裏面の外観検査を行い...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社

  • ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』 製品画像

    ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』

    省スペースで検査の自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検…

    『LI700E』は、ICパッケージの端子曲がり等の寸法検査、及びキズ・異物等の欠 陥検査を実施する外観検査装置です。 省スペースで検査の自動化を実現。製品下面より、モールド面や端子面の検査を 実施し良否判定/選別をします。 【特長】 ■高精度2次元&3次元寸法...

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