• 40GHz対応高性能(ラディアスタイプ)同軸2.92mmアダプタ 製品画像

    40GHz対応高性能(ラディアスタイプ)同軸2.92mmアダプタ

    PR切削加工技術を向上!ラディアスタイプには湾曲することにより利点がありま…

    当社で取り扱う「40GHz対応 高性能(ラディアスタイプ)同軸2.92mm アダプタ」をご紹介いたします。 通常のライトアングルタイプは、直角に曲げる為、中心コンタクトが 二つ構造になっています。しかし、当製品は湾曲させて曲げることにより、 中心コンタクトを一体にすることが可能になり、より優れたVSWRを実現。 また、限られたスペースにおける配線が簡単になります。 ご要望の際は...

    メーカー・取り扱い企業: ホンリャン・ジャパン株式会社 サードカンパニー株式会社

  • 複雑な形状のシャフト研磨装置「IRF-1000」 製品画像

    複雑な形状のシャフト研磨装置「IRF-1000」

    PR複雑な形状のシャフトが研磨できる加工技術!

    従来のフィルム研磨工法をさまざまな角度から駆使し、円筒物の外周部だけでなく、ワークの輪郭に好適角度でコンタクトローラーを押し当てる事が可能な「ワーク輪郭部追従型」フィルム研磨装置を開発しました。 【特徴】 ○研磨ヘッドをワークの研磨面に好適な角度で押し当てる事が可能 ○2種類のコンタクトローラーをローテーションすることで幅広い研磨加工が可能 ○最大90°まで研磨ヘッドを振ることが出来るため際まで...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社コバックス

  • 【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 製品画像

    【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

    コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価

    市販のSiCパワーMOS FET素子の解析事例をご紹介します。 SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ソフトコンタクトレンズの表面イメージング 製品画像

    【分析事例】ソフトコンタクトレンズの表面イメージング

    水溶液中でAFM分析による表面性状の定量評価ができます

    高分子には、環境によって形状変化する素材があります。試料本来の形状を観察するためには、実環境での測定が必要となります。 本資料では、生理食塩水中でのソフトコンタクトレンズ表面形状を可視化した事例をご紹介します。実環境に近い条件で測定することによって、試料本来の形状を保ったままの評価が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • OBIRCH分析(光ビーム加熱抵抗変動法) 製品画像

    OBIRCH分析(光ビーム加熱抵抗変動法)

    OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

    OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定可能。 ・DC電流経路を可視化。 ・ゲート酸化膜微小リークを捉えることが可能。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント 製品画像

    『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

    高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM(透過電子顕微…

    トの要因  ■TEM、STEMの使い分け   ■超高分解能HAADF観察 <TEMの応用と事例>  ■分析事例   ・雰囲気制御&冷却下でのTEM分析   ・SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価   ・微細トランジスタの構造評価 ※小冊子をご希望の方は「お問い合わせ」より、  “カタログ送付希望”の欄にチェックを入れてお申し込みください。 (ダウンロードいただけるP...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AFMデータ集 製品画像

    【分析事例】AFMデータ集

    AFM :原子間力顕微鏡法

    AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価 製品画像

    【分析事例】結晶Si太陽電池の拡散層評価

    ドーパントの定量評価およびキャリアの分布評価

    裏面電極型結晶Si太陽電池(バックコンタクト型Si太陽電池)において、電極直下のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。また、キャリアの分布評価を行うことで、p/nの極性判定や空乏層を断面方向から可視化することが可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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