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歩留り低下を誘引する欠陥情報を速やかにマップ化する自動検査装置
クロ検査で抽出された候補欠陥に対して、 レーザー顕微鏡による三次元自動測定を行い欠陥P-V値等の詳細データを ユーザーに提供、プロセスの安定化に寄与します。 【特長】 ■微小凹凸欠陥(チャック痕・放電痕・打痕・接触痕等)を高感度・高速に検出 ■裏面全面検査(EE=1mm) ■画像処理とマスクによる候補欠陥抽出 ■広いダイナミックレンジと高い処理能力 ■共焦点顕微鏡による自動...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティマ https://www.optima-1.co.jp/
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