製造現場実績収集-確実収集のヒント-RFIDデタコレシリーズ

PR製造DX/管理、スケジューラ活用は現場実績データの確実な収集から。ミド…

デモ可能、ご相談下さい。 ★デタコレシリーズに、ミドルウェアが新登場！ ★必要な実績データを、現場状況に適した　「RFIDタグ・機器構成・運用方法・システム連携方法」で確実に収集致します。 【特徴】 　〇ミドルウェアによる多彩なシステムインターフェース 　〇手作業現場でも自動搬送ラインでも活躍 　〇確実なデータ収集 　〇製造を止めない 　〇レイアウト変更/故障時交換に柔軟対...

メーカー・取り扱い企業： シーレックス株式会社

熱伝導放熱材料（TIM）

PR近年の電子デバイスの小型化、高集積化に伴う熱課題を解決するため、厚み方…

VB200は近年の電子デバイスの小型化、高集積化に伴う熱課題を解決するため、特殊エラストマーをベースに開発された熱伝導放熱材料（TIM）です。厚み方向（Z軸）に38W/m Kという優れた熱伝導率を有し、装着した電子部品の熱を効率良く伝熱します。加えて、特殊製法によって製造されるVB200は、液状の放熱材料の使用が想定される薄膜領域での製品提供が可能です。...・厚み方向（Z軸）への優れた熱伝導率　...

メーカー・取り扱い企業： ゼオン化成株式会社 高機能材料部

【資料】しるとくレポNo.53＃アバランシェ試験（2）

デバイスの過渡熱抵抗など図を用いて解説！適当なパラメータを持つMOSF…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートは、しるとくレポNo.52でお話ししたMOSFETのアバランシェ 耐量試験の続きとなります。 デバイスの過渡熱抵抗やアバランシェ動作時の損失と時間の関係について 図やグラフを用いて解説。 デバイス選定の際に、異なる条件で測定されたデバイスを比較しても あまり意味はありません。データシート...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.25＃計測装置の自動制御

制御プログラムで自動制御！計測装置を自動制御したときのメリット等を掲載…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、光デバイスに関する計測装置の自動制御について ご紹介したいと思います。 光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの 複数の特性を測定・評価。 そして、これらの特性を評価...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.52＃アバランシェ試験（1）

アバランシェ降伏、UIS試験回路と波形など！パワーMOSFETのアバラ…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ アバランシェ試験で測定するアバランシェ耐量とは、パワーデバイスに 耐電圧以上の電圧を印加していくと急激に電流が流れはじめ破壊に至って しまうのですが、どのくらいのエネルギーまで耐えられるかということを指します。 当レポートでは、アバランシェ降伏やU...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology