インパルスノイズ試験器 INS-S100

PR電源ラインからの侵入や通信線などへの誘導ノイズによる電子機器の性能評価…

インパルスノイズ試験器はスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生させ、電子機器の耐性を評価する試験器です。 インパルスノイズ試験器INS-S100は、50Vからのパルス出力が可能で、製品開発時の回路基板や弱電部品などのノイズ耐性評価が手軽に行えるほか、市場での不具合発生時の解析などにも活用できます。 ○ ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

「第37回 EMC・ノイズ対策技術展」出展のご案内

PR株式会社ノイズ研究所はTECHNO-FRONTIER 2024「第37…

EMCのお困りごとありませんか？当展示会では解決方法を“カタチ”にします。 【製品のノイズ耐性向上】 回路基板や弱電部品に対して、インパルスノイズ試験器と各種プローブなどを使用したノイズ耐性評価をご紹介します。 【EMC試験を手軽に】 試験の予約が埋まっていて直ぐに試験が出来ない。設備が高額で購入が難しい。このようなお悩みを解決する簡易システムseriesをご紹介します。 他に、静電気試験の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

単一原子を移動させるために使用されているAWGカード

Spectrum社AWGの並外れた精度と超低ノイズにより、光格子内を移…

構造に移動させることです。 個々の原子を操作するには、各レーザパルスから正確に適切な量の エネルギーを供給するための並外れた精度が必要。 Spectrum社AWGの並外れた精度と超低ノイズは、まさに私たちが 必要としている機能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エレクトロニカIMT事業部

AFM針先で原子をスキャン（ニューキャッスル大学）

【アプリケーション例】統合されたマイクロカンチレバーにより原子をスキャ…

子間力顕微鏡（AFM）の優れた解像度は、光ベースの 顕微鏡よりも1000倍以上に高感度です。 電子顕微鏡とは異なり、サンプルをその場で画像化可能。 メカトロニクス、MEMS、および低ノイズ電子設計の専門知識を結集して、 AFMシステムのナノテクノロジーの複雑さとコストを削減できる独自の ソリューションの例をご紹介します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エレクトロニカIMT事業部