反射率測定装置 MSP-100

かつてない低コストで実現

●特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時） ●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ） ●低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社渋谷光学