【導入事例】LTE測定器の検査にJTAGテストを採用

高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！

LTE測定器の検査に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。 当製品を導入することにより、Ｘ線検査では検出することができないハンダ不良やパターン不良を通電試験で確実に見つけることが可能になりました。 また、大規模なFPGAとDDRメモリを組み合わせたシステムは、ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへのフィードバックが困難でしたが、当製品...

メーカー・取り扱い企業： アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部

【導入事例】実装基板の検査にJTAGテストを採用

BGA搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上！

BGA搭載基板の故障解析のため、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様をご紹介します。 当製品導入後は、BGAパッケージを多数搭載した高密度なプリント配線板に対しても、十分な品質確保ができます。 【事例】 ■サクサテクノ株式会社 生産技術部 　・ビジネスホンやICカードリーダ関連製品を中心とした製造 ■課題 　・BGAが多数搭載されテストピンを十分に立てることがで...

メーカー・取り扱い企業： アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部

ボード検査システム『JTAG ProVision』

見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも…

『JTAG ProVision』は、JTAGテスト、Flashのオンボード書込み、PLDのオンボード書込みといった様々な機能を簡単に使用し、基板全体の実装検査を実現するツールです。 ネットリストとBSDLファイルに部品ライブリの情報を元にテストパターンを半自動で作成する仕組みにより、ファンクションテストの開発に掛かる時間を大幅に削減します。 また、Flashオンボード書き込み対応コント...

メーカー・取り扱い企業： アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部