【AFM・SPM用】校正用グレーティング

各種SPMシステムの校正やSPMプローブの評価。測定の標準サンプルとし…

AFM・SPM校正用の基準サンプルです。御用途に合わせて最適なものを選択できます。 ・X軸、Y軸、Z軸較正 ・ノンリニアリティ検出 ・横方向、垂直方向のノンリニアリティの検出 ・角変形の検出 ・tip 形状のパラメーター（アスペクト比、曲率半径）、tipの劣化、コンタミネーションコントロールの決定。 ・ヒステリシス、クリープ、クロスカップリング効果の検出 ・tip特性 ・スキャニン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ