『JPCA Show 2024』に出展のご案内

PR電子回路業界及び関連業界全体の発展に寄与する展示会に出展します！

株式会社アインは、東京ビッグサイトで開催される『JPCA Show 2024』に 出展します。 当展示会は、様々な電子・情報通信・制御機器に使用される 電子回路・実装技術や、新しいコンテンツとソリューション等を展示。 当社はパワーデバイス用の厚銅セラミックス基板「AMB基板」及び、 メッキ法を用いたセラミックス配線基板「DPC基板」を展示予定です。 皆様のご来場を心よりお待...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイン 本社工場

SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

『ハンドヘルド型蛍光Ｘ線式測定器XAN500』持ち運び可能！

高精度かつ高い検出感度！現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光…

20 x 385mm （幅 x 奥行 x 高さ） ■メジャリングボックス測定室内寸法：150 x 330mm ■バッテリー動作時間：約6時間 膜厚測定のことならフィッシャーへ！ 塗膜、メッキ厚、非破壊、非接触、さまざまな膜厚測定の課題に適したソリューションをご提案いたします。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！薄膜・…

『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルで...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

蛍光X線分析装置（XRF）を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置（XRF）は波長分散型X線分析法（WDX）を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法（EDX）よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析（判別）やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

蛍光X線分析器「X-RAY XAN250/XAN252」

薄膜や微量元素の分析に最適！貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可…

「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)250/XAN(R)252」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 特に薄膜や微量元素の分析に適しています。 XAN250とXAN252は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XA...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東栄産業

据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』

自動コリメータおよびフィルタースイッチを搭載した据置型蛍光X線分析装置

当社では、内蔵SNEにより、信号処理能力が旧型と比較して最大25倍に 向上した据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』を取り扱っています。 コリメーターとフィルターは、異なるアプリケーションに対応するオートスイッチ。 また、フレンドリーなソフトウェアインターフェースにより操作性の簡便性の 向上に貢献します。 【適用分野】 ■RoHS対象元素の分析 ■鉱物及び合金（銅、ス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社T&S

蛍光X線分析器「X-RAY XAN215」

貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます！

「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)215」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 対象元素はCl(17)からU(92)までで、24元素を同時に分析が行えます。 主な測定対象としては、ジュエリー・貴金属および歯科用合金、イエロー・ホワイトゴールド...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東栄産業