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PRmm単位を超える広い面内測定範囲!多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…
当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....
メーカー・取り扱い企業: 株式会社新興製作所
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優れたランピング機能と切りくず排出!ポケット加工に最適化
【その他特長】 ■チップ ・切りくず流れを改善するカーブしたコーナRクリアランス ・ブレーカー形状を簡単に区別できるマーキング ・高いラッピング加工能力および良好な切りくず排出を発揮する 最適化されたラッピング切刃 ・キャピティ加工において高い安定性を発揮する複合した コーナR付き強化型チップコーナ ・カーブした主切...
メーカー・取り扱い企業: 森一産業株式会社
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