• 6インチ レーザー干渉計 製品画像

    6インチ レーザー干渉計

    ガラス、プラスチック、金属などの平面形状測定に最適

    小口径から大口径の研磨面をλ/20の高精度で測定評価が可能です。...大口径の平面ガラス、金属、ミラー、ウエハーなどの面精度の測定評価に最適です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナガタ

  • 平面形状測定装置『OptoFlat』 製品画像

    平面形状測定装置『OptoFlat』

    誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両…

    作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減(裏面キャンセル厚さ0.3mm以上) レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マブチ・エスアンドティー

  • コンパクトFTIR  ALPHA II ※A4用紙1枚の設置面積 製品画像

    コンパクトFTIR ALPHA II ※A4用紙1枚の設置面積

    【設置面積がA4用紙1枚分という、コンパクトなFTIR分光計!】原材料…

    『ALPHA II』は、定性および定量分析、原材料の検証、品質管理など、 あらゆる業界と分野におけるすべてのアプリケーションに対応するマルチパーパスな FT-IR です。 コンパクトボディに日常の赤外スペクトル分析に求められる機能のほとんどを搭載した、 新しい分析ツールです。 【特長】 ■コンパクトかつレジリエントなデザイン ■ほぼすべての試料形状に対応 ■堅牢・耐震設計 R...

    メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

  • 非接触厚さ測定技術 測定機 製品画像

    非接触厚さ測定技術 測定機

    厚さの絶対値が瞬時に測定可能!0.1μmの測定精度を維持

    【赤外光で厚さを計測】 赤外光は特定の物質の中を透過します。この性質を利用して特定の物質の厚さを非接触で計測する技術です。シリコンウェハー、サファイヤ、ガラスなどを非接触にて厚さ・形状を測定します。光干渉方式、変位計方式などニーズに合わせた測定機を提案・開発します。 【特長】 ■赤外光を通す物質であれば材質変形させることなく厚さ測定が可能 ■赤外光方式では絶対値を計測することが可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 昭和電子工業株式会社

  • 【無料ウェビナー】レーザ/レンズの波面収差をリアルタイム計測 製品画像

    【無料ウェビナー】レーザ/レンズの波面収差をリアルタイム計測

    【11月18日(金)14:00開催】群・組レンズの歩留まり改善!収差に…

    大好評 パルステックウェビナーの第8弾! 光学部品の品質や光学機器の性能を波面収差にて定量化できる波面センサ(PWSシリーズ)の測定原理 や計測事例などについて講演いたします。 従来の計測手法である干渉計と比較した際のメリットや波面計測システム(LUCAS)での測定イメージ もご紹介いたします。 ウェビナー(オンラインセミナー)形式で無料にてご聴講いただけます。 会社やご自宅の...

    メーカー・取り扱い企業: パルステック工業株式会社

1〜5 件 / 全 5 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 修正デザイン2_355337.png
  • bnr_2403_300x300m_ur-dg2_dz_ja_33566.png