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    光コネクタ端面3D測定干渉計 光ファイバ端面検査

    光コネクタ端面3D測定干渉計は、ファイバフェルール、パッチコード、ピッ…

    光コネクタ端面3D測定干渉計 研磨および組立工程にでの検査用に設計された干渉計です。以下の検査に対応します。 ●光ファイバフェルール ●パッチコード ●ピッグテール ●ベアファイバ 鮮明な3D画像表示が可能、製品は人間工学に基づいた検査治具とで、直感的で使いやすいソフトウェアも完備しております。 ※PDFカタログをダウンロードいただけます。詳しくはお問い合わせください。......

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 光波長計 ( CW専用 ・ CW&パルス両用 ) 製品画像

    光波長計 ( CW専用 ・ CW&パルス両用 )

    高分解能・高性能・高速・高精度の光波長計

    ● 確度の高いレーザー波長測定に最適です。マイケルソン干渉計をベースとするCWレーザー波長計で、精度は最高 ±0.2 ppm です。またパルスレーザー、CWレーザーの波長を±0.0001 nmもの高精度で測定します。高速光検出器アレイの受信シグナルから干渉縞を生成します。 ■671シリーズは高い波長分解能 (±0.0001 nm) で可視域から中赤外(MIR) 375 nm to 12 μm...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

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