【オンライン展示会】 株式会社ダッド デジタルクリエイティブ展

PRものづくりをデジタルで変える。デジタル技術でイノベーションを促進し新し…

株式会社ダッドのWeb展示会　「デジタルクリエイティブ展WEB2024」が下記URLで開催中です。（5/27～8/30） トヨタグループ各社様をはじめ、多くの企業様で採用いただいた最新ソリューション事例をご紹介します。 ■新企画　展示会アーカイブ リアルで開催した展示会の内容をご紹介！ ■バーチャルセミナー ダッド社員がお役立ち事例や事業を動画でご紹介！ ■課題解決事例を多...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ダッド

【トレサビ】ネジ締め時のトルク換算値を無線で記録※導入事例つき

PRネジ締め時のトルク換算値を無線で記録。生産性や製造品質向上に寄与するA…

製造業における課題「人材の育成と確保」「省エネ・生産性向上」に対し、スキルによらず誰でも一定の品質を担保し、工場のDX化へ対応できる特長を備えたACスクリュードライバーが“Azeloss（アゼロス）”です。 ハイエンドモデルは設定したトルクで正しく締付できたかどうかを判定し、その結果をデータとして送信可能。トルク換算値のデータを残すこともできます。 締付時間や工具のシリアルナンバーも管理で...

メーカー・取り扱い企業： パナソニック株式会社 エレクトリックワークス社　電材＆くらしエネルギー事業部　パワーツールＳＢＵ

【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

デバイス内部の構造を複合的に評価します

MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SNDMおよびSMMによる拡散層評価

SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

え評価が重要となります。今回、SiC Trench MOSFETに関して、SNDM（走査 型非線形誘電率顕微鏡）にてキャリア極性判定をSMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）にてキャリア濃度分布を評価した事例をご紹介します。　...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】FT-IRによる樹脂の硬化反応評価

官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です

電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤として利用されています。FT-IR分析は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、エポキシ樹脂の硬化度を評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

デバイス内部の異常を非破壊で評価します

外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST