FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展

PR受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに…

『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の NIR分光計です。 製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、 製造のばらつきを改善。 固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、 ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。 【特長】 ■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性 ■RockSolidテク...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

微粒子可視化システム『Type-H』

【Webデモ実施中】独自の可視化システムにより、粒子・気流の高感度な可…

には見えない微粒子に光を届けます。 ■ レーザシートの制御 コントローラのダイヤル操作で、場面ごとに最適な、光の出力、広がりや照射角度などの精密な遠隔制御ができます。 ■ 操作性 独自の光源システム構築により、設置のためのスペースを軽減し、特に製造現場での設置と取り回しが容易になりました。 【詳しくはカタログをダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】...

メーカー・取り扱い企業： 新日本空調株式会社 ソリューション事業部