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PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能! X線CTによる受託計測・解析…
進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察 【受託依頼 フロー】 1) お問合せ(IPROS, ホームページ、Eメール...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社進和 戦略営業推進室
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PROリングを使用することなく、優れた防水性能を発揮しコストを低減できます
「ラビロック」は、IPX8試験クリアした防水ねじです。自社試験では水深10m相当まで水の浸入を防きます。座面に多列溝加工で迷路のような構造を作り、外部からの圧力を分散します。そのため、Oリングを使用することなく防水性能を発揮します。また、ねじ本体のみで防水サボートしているのでコスト低減が可能です。 【特徴】 ○特許取得済 ○多列溝加工でパッキンと同様の働きを実現 ○2重のエアーパッキン...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニオン精密
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高倍率観察が可能!半導体デバイスの内部の観察や電気・電子部品の非破壊検…
』は、近赤外波長コート@1100nmを中心に 高い透過率を実現しました。 赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで、高倍率観察が可能。 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部の観察をはじめ、 ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査や、ウェハーや フリップボンダー用の位置決めにお使いいただけます。 【特長】 ■近赤外撮影用 ■近赤外波長コート...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学
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NIR テレセントリックレンズ『KCM-2DUMP-NIR』
光学倍率は2倍!近赤外撮影に好適な同軸落射のテレセントリックレンズのご…
社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-2DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 近赤外撮影に好適で、シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの 内部を観察する際などにお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率:2 ■W.D.:65mm ■被写界深度(mm):0.2 ■分解能(μm...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ケンコー光学
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